Gebraucht FILMETRICS F20 #293749308 zu verkaufen

FILMETRICS F20 ist eine Hochleistungs-Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es ist speziell für die Messung von Dünnschichtparametern wie Dicke, optische Konstanten und Brechungsindizes ausgelegt. Das System besteht aus einem 1.200mm Brennweite Strahlexpander, einem 633nm HeNe Laser und einer 200mm Durchmesser Kugellinse. Das Gerät hat eine Auflösung von 0,5 μ m und eine Genauigkeit von 0,01 μ m. Die Maschine kann Schmiermittel- und Mittellinienstärken dünner Filme bis zu 50nm messen. FILMETRICS F 20 bietet zahlreiche Funktionen und Funktionen. Es verfügt über ein fortschrittliches Datenerfassungstool, das automatisch Daten von bis zu acht Wafern gleichzeitig erfasst und speichert. Es verfügt auch über eine integrierte Wafer-Mapping-Funktion, die eine schnelle Navigation der Waferoberfläche ermöglicht. Darüber hinaus ermöglicht eine farbcodierte Abbildung eine schnelle und genaue Identifizierung von Dünnschichtbereichen auf einem Wafer. Das Asset verfügt zudem über eine ausgeklügelte Software zur Datenanalyse und umfassenden Reporting. Die fortschrittliche Software ermöglicht die Sammlung, Präsentation und Analyse detaillierter Dünnschichtdickendaten. Die Daten können grafisch dargestellt werden, was eine schnelle und einfache Interpretation ermöglicht. Die Software ermöglicht auch die Erstellung von maßgeschneiderten Standard-Wafer-Maps und prüfungsbezogenen Berichten. F20 ist benutzerfreundlich und einfach einzurichten und zu bedienen. Seine intuitive grafische Benutzeroberfläche (GUI) ermöglicht es Benutzern, schnell zu navigieren und das Modell zu steuern. Darüber hinaus können Benutzer dank seiner Fernüberwachungsfunktionen ihre Geräte im Auge behalten und entsprechend auf Änderungen in der Systemleistung oder mögliche Probleme reagieren. Insgesamt ist F 20 ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug für Dünnschichtanalysen. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen, genauen Messungen und umfassenden Analysefunktionen ist es eine ideale Wahl für jede Forschung oder kommerzielle Dünnschichtmessung.