Gebraucht FILMETRICS F20 #293793248 zu verkaufen
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ID: 293793248
Thickness measurement system
M/N: 205-0121
Thickness range: 15 nm to 70 m
Wavelength range: 380 to 1050 nm
No microscope.
FILMETRICS F20 ist eine integrierte Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um die Genauigkeit und Geschwindigkeit von Wafer-Prüfprozessen zu verbessern. Es ist eine ideale Lösung für eine breite Palette von Wafer-Testanwendungen, einschließlich der in der Halbleiter-, MEMS und optischen Industrie. Herzstück von FILMETRICS F 20 ist das leistungsstarke, aber intuitive optische Profilometer und Bildgebungssystem. Es verfügt über patentierte Lichtextraktionstechnologien, die einzigartige Beobachtungen mit Mikrosekunden-Genauigkeit ermöglichen. Neben dem Sammeln von Maßmessungen und Oberflächenrauhigkeiten kann die Einheit ein Bild des gesamten Wafers oder einzelner Werkzeuge in mehreren Achsen erfassen. Die aufgenommenen Bilder werden mit fortschrittlichen Software-Algorithmen zur Analyse erweitert. Darüber hinaus kann das optische Profilometer von F20 das Vorhandensein von Materialschichten in Wafern mit einer Auflösung von bis zu 20 nm erkennen. Dies ermöglicht eine beispiellose Genauigkeit bei der Erkennung winziger Defekte auf einer Waferoberfläche. Darüber hinaus nutzt die Maschine eine neu konzipierte 200mm-Stufe, um berührungslose Parametermessungen und automatisierte Scanvorgänge schnell abzuschließen. Dies verbessert die Produktionsleistung und ermöglicht es Benutzern, ihre Produkte schneller zu diagnostizieren und zu optimieren, als bisher für möglich gehalten wurde. Die leistungsfähige Job-Programmiersoftware von F 20 rationalisiert den Prozess der Programmierung und Implementierung von Tests auf Wafern. Das Tool ist auch sehr konfigurierbar und kann programmiert werden, um eine breite Palette von Wafertests wie Stresstests, Reflektivitätstests und mehr zu scannen. Darüber hinaus soll es auch Umwelteinflüsse wie Staub und andere Fremdkörper sowie Vibrationseffekte minimieren. Insgesamt bietet FILMETRICS F20 eine robuste und einfach zu bedienende integrierte Prüf- und Messtechnik für Wafer, die in der Lage ist, genaue, schnelle und zuverlässige Ergebnisse in einer Vielzahl von Tests und Anwendungen zu liefern. Seine einzigartigen Eigenschaften und seine hervorragende Leistung machen es zu einer idealen Wahl für alle Prüf- und Messtechnik-Anforderungen.
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