Gebraucht FILMETRICS F20 #9316076 zu verkaufen

FILMETRICS F20 High-Speed, High-Accuracy Wafer Testing and Metrology System bietet eine umfassende Suite von Tests, die genaue Messung in einer Vielzahl von Anwendungen ermöglicht. FILMETRICS F 20 verwendet hochfrequente konfokale Bildgebung, um dreidimensionale physikalische Eigenschaften von Materialien genau zu messen und ermöglicht eine präzise Analyse für Anwendungen wie Dünnschichtdicke, Zusammensetzung und andere optische Parameter. Die fortschrittliche Hard- und Softwarekombination führt zu einer schnellen Messung mehrerer Bereiche auf jeder Probenoberfläche, von Halbleiterscheiben bis zu Reinraumoptiken, die schnell und genau analysiert werden können. F20 arbeitet mit einem leistungsstarken High Speed Imaging Scanner Modul, das für Geschwindigkeit, Präzision und Genauigkeit optimiert ist. Seine 3D-Fähigkeit bietet quantitative, Mapping-Level-Genauigkeit für die Messung von Schritthöhen und Neigungswinkeln. Die hohe Genauigkeit von F 20, gepaart mit seiner branchenführenden Scangeschwindigkeit, macht es ideal für die Echtzeit-Prozesssteuerung, die eine äußerst genaue Analyse jedes Prozessschritts ermöglicht. Die hochauflösenden, dreidimensionalen Topographiekarten von FILMETRICS F20 werden durch die Kombination hochauflösender vertikaler Bilder und niedrig auflösender seitlicher Bilder jedes Probenbereichs erstellt. Die Software vergleicht ständig während des Scans gesammelte Datenpunkte und liefert Feedback, mit dem die Parameter entsprechend angepasst werden, um im Vergleich zu Standardwerten optimale Einstellungen beizubehalten. Gleichzeitig werden lineare KEs wie Stufen und Kantenprofile automatisch extrahiert und hervorgehoben, was eine intuitive und schnell betrachtete Darstellung der Fläche auf Pixelebene ermöglicht. Neben dem Modul Imaging Scanner verfügt FILMETRICS F 20 über eine leistungsstarke integrierte Messplattform, die aus mehreren anderen Modulen besteht, wie dem Optics & Fluorescence Analyzer, dem Advanced Spectrophotometer und den Modulen Bildanalyse & Kalibrierung. Neben umfangreichen Probentestfunktionen bietet das Advanced Spectrophotometer eine leistungsstarke Datenanalyse für Anwendungen wie Elektrolumineszenz, OLED-Charakterisierung und CdSe/ZnO-Dünnschichtmessungen. Das System ist auch mit hochgenauen Kalibriermechaniken ausgestattet, die es ermöglichen, in jeder Umgebung zu arbeiten, vom Reinraum bis zum Labor. F20 ist ein ermöglichendes Stück Wafer-Prüf- und Messtechnik, das die Industrie revolutioniert hat. Mit seiner leistungsstarken Hardware und intuitiver Software bietet das System ein beispielloses Maß an Leistung und Genauigkeit.