Gebraucht FILMETRICS F3 #293593195 zu verkaufen

FILMETRICS F3 ist eine vielseitige Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für den Einsatz in der Halbleiterherstellung. Das System bietet schnelle, hochauflösende Bildgebung, vielseitige Oberflächentests und fortschrittliche statistische Analysen, was es zu einem wertvollen Werkzeug in den heutigen fortschrittlichen Prozessen macht. F3 ist eine kompakte und hochautomatisierte Einheit, die eine schnelle Einrichtung und effiziente Laufzeiten ermöglicht. Seine flexible Architektur ermöglicht eine nahtlose Integration mit einer Vielzahl bestehender Geräte und Protokolle. Es verfügt über eine große Messfläche, die den Abschluss aller Standardtests ermöglicht, die oft für Halbleiterherstellungskunden erforderlich sind. Darüber hinaus ist FILMETRICS F3 in der Lage, kleine Merkmale oder Strukturen mit einer Auflösung von bis zu 0,1 µm zu messen. F3 verfügt über eine ausgeklügelte Bildverarbeitungsmaschine, die synchronisierte fokussierte Bilder und Ereignisse ermöglicht, sowie automatisierte Korrekturverarbeitung und die Möglichkeit, relevante Datenpunkte abzubilden. Die integrierten statistischen Analysefunktionen des Tools ermöglichen den Vergleich von Wafer-Topografien nach der Verarbeitung. Darüber hinaus ist FILMETRICS F3 in der Lage, eine Vielzahl von Oberflächenprüfverfahren durchzuführen, wie elektrische Messungen, Kapazität-Spannungsmessungen und Scans nach physikalischen Parametern. Die Anlage ist mit einem integrierten Vakuumfutter ausgestattet, um die Ausrichtung der gescannten Substrate zu vereinfachen, sowie mit einem beheizten Spannfutter zur genauen Prüfung empfindlicher Geräte. Das fortschrittliche Metrologiemodell F3 bietet eine umfassende Palette von Werkzeugen für die Halbleiterprozesssteuerung, die eine präzise Charakterisierung von Wafer-Topographien, elektronischen Geräten und anderen physikalischen Eigenschaften ermöglichen. In Kombination mit der automatisierten Datenerfassung bietet das Gerät eine leistungsstarke Lösung für automatisierte Wafer- und Gerätetests.