Gebraucht FILMETRICS F30 #293820562 zu verkaufen

FILMETRICS F30
ID: 293820562
Thin‑film measurement system.
FILMETRICS F30 ist ein preisgekröntes Wafer-Prüf- und Messtechnik-System für eine Vielzahl von Halbleiter- und anderen Anwendungen. Es ist ein einfach zu bedienendes, kostengünstiges System, das die Datenerfassung und -analyse vereinfacht. F30 verfügt über einen flexiblen manuellen und automatisierten Betrieb mit leistungsfähiger Scansoftware, die für eine Reihe von Test- und Messtechnik-Aufgaben verwendet werden kann. FILMETRICS F30 verwendet das patentierte optische Mikroskop FILMETRICS und die integrierte Mikroskopkamera, um hochauflösende Bilder von Waferoberflächen bereitzustellen. Es ist in der Lage, 3D-Topographie und Formen wie Schritthöhen, Schrittwinkel und mehr zu messen. Es bietet auch die Möglichkeit, andere Parameter wie Reflektivität oder Dicke zu messen. Mit einem automatisierten Ansatz ist F30 in der Lage, die gesamte Waferoberfläche auf einen Schlag zu messen. Die Software, die mit FILMETRICS F30 geliefert wird, ist benutzerfreundlich und ermöglicht es Benutzern, automatisierte Messungen schnell zu programmieren und zu starten. Es bietet leistungsstarke Analysetools wie digitale Bildkorrelation für schnelle und genaue visuelle Inspektionsergebnisse. Darüber hinaus bietet es die Möglichkeit, mithilfe des mitgelieferten Skript-Editors schnell maßgeschneiderte Messprogramme zu erstellen. F30 kommt auch mit einer Vielzahl von Zubehör, wie eine Arbeitsstation und Kameraadapter, um den Messvorgang zu rationalisieren. Es kommt auch mit FILMETRICS proprietäre Datenprotokollierungssoftware, mit der Benutzer Daten von FILMETRICS F30 schnell auf einen Computer oder ein anderes Speichergerät übertragen können. F30 ist auf die höchsten Industriestandards ausgelegt und ist CE-, CSA- und TÜV-zertifiziert. Es ist äußerst langlebig und zuverlässig mit einer hohen Genauigkeit und Wiederholbarkeit konzipiert. FILMETRICS F30 wird ebenfalls durch eine zweijährige Garantie unterstützt. Insgesamt ist F30 ein leistungsfähiges und zuverlässiges Wafer-Test- und Metrologiesystem, das die Datenerfassung und -analyse vereinfacht. Es wurde für höchste Industriestandards entwickelt und bietet eine benutzerfreundliche, voll ausgestattete Lösung für eine Vielzahl von Anwendungen.
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