Gebraucht FILMTEK 1500 #9358520 zu verkaufen

FILMTEK 1500
ID: 9358520
SCI Film thickness and reflectivity measurement system.
FILMTEK 1500 ist ein modernes Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das auf genaue, präzise und zuverlässige Wafer-Charakterisierung ausgelegt ist. Ausgestattet mit umfassenden Wafer-Handhabungsfunktionen und intuitiver Software ist 1500 ein wesentliches Werkzeug für fortschrittliche Halbleiteranwendungen. FILMTEK 1500 bewertet die Ebenheit, Dicke, Kette und andere Eigenschaften eines Wafers, um eine Vielzahl von Prüf- und messtechnischen Zwecken zu erfüllen. Es verfügt über einen Roboterarm zum Aufnehmen und Bewegen eines Wafers von einer Kassette zu einer Montagestufe, wo der Wafer seine Ebenheit, Kette und Dicke gemessen hat. Der Wafer wird dann zur Überprüfung der Oberflächenstabilität des Wafers in das Sichtsystem überführt. 1500 bietet auch Lösungen für die Bewertung von Rückseitenverdünnung und CMP-bezogenen Tests. Es kann die Wirksamkeit und Stabilität der rückseitigen Verdünnung analysieren und auch CMP-prozessbezogene Tests durchführen. Mit diesem Tool können Benutzer verschiedene Eigenschaften eines CMP-Prozesses analysieren, einschließlich Prozesszeit/Druck/Temperatur, Planheit, Korngröße und Porosität/Rauheit. FILMTEK 1500 kommt mit intuitiver Messsoftware, die Benutzern die Möglichkeit gibt, verschiedene Echtzeitoperationen einfach zu steuern. Es bietet auch Zugriff auf eine breite Palette von Testparametern und Optionen zur Messung auf jedem Wafer. Mit der automatischen Kalibrierungsfunktion des Systems können Benutzer sicher sein, dass Messungen den wahren Wert des zu prüfenden Wafers genau widerspiegeln, wodurch die manuelle Einstellung der Einstellungen entfällt. 1500 wurde auch für einen zuverlässigen Betrieb in einer Produktionsumgebung konzipiert. Sein robuster Roboterarm bietet eine hervorragende Wiederholbarkeit und Qualitätssicherung bei der Handhabung und Übertragung von Wafern. Die erstklassigen Prüf- und Messtechnikmerkmale von FILMTEK 1500 ermöglichen es Anwendern, die Qualität und Leistung ihrer Wafer mit Präzisionsmessungen und ausgezeichneter Wiederholbarkeit zu verbessern.
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