Gebraucht FOUR DIMENSIONS 280SI #293618563 zu verkaufen

FOUR DIMENSIONS 280SI ist eine von Center Seven entwickelte Wafer-Prüf- und Messtechnik. Diese Geräte können für die Online-Überwachung, Prüfung und Messtechnik von Waferoberflächen verwendet werden. Es bietet fortschrittliche, vollautomatische Scanfunktionen für die 2D- und 3D-Messtechnik. 280SI verwendet optische 3D-Technologie zur Messung von Waferform, -größe und -dicke sowie Kantenprofilierung. Das System liefert schnelle und zuverlässige Rückmeldungen in Form eines umfassenden Berichts, einschließlich Dimensionen und Datenanalysen. FOUR DIMENSIONS 280SI ist für die automatisierte und zuverlässige Wafer-Oberflächenmesstechnik in einer Produktionsumgebung konzipiert. Es hat eine hohe Genauigkeit Wiederholbarkeit für alle Arten von Wafern, und ist in der Lage, 3D-Scans, Kantenprofilierungen und Flächenproben. 280SI Gerät bietet auch eine viel höhere digitale Bildauflösung als viele andere Systeme. Dies erhöht die Genauigkeit der Messergebnisse und gewährleistet Konsistenz und Wiederholbarkeit. FOUR DIMENSIONS 280SI umfasst eine Reihe von Funktionen und Funktionen, wie Datenerfassungssoftware, Bildinspektion, Analysetools, Prozessauditing und statistische Prozesskontrolle (SPC) Datenanalyse. Die Maschine enthält auch eine integrierte Bibliothek mit Standard-Wafertypen sowie benutzerdefinierte Wafer-Bibliotheken. Dies sorgt für Genauigkeit bei der Messung verschiedener Wafergrößen, Formen und Dicken. Das Werkzeug verfügt über eine Reihe weiterer Merkmale, wie automatisierte Erkennung von Waferoberflächen, Fehlermessung, Ermittlung einzelner Waferhöhen, Oberflächenabstandsmessung und Dickenabweichung. Darüber hinaus können Benutzer 280SI mit verschiedenen Messwerkzeugen konfigurieren, einschließlich CCD und Laserscannen. Alle diese Funktionen bieten ein umfassendes Leistungspaket, mit dem Benutzer ihre Wafer-Test- und Messtechnik-Prozesse vollständig automatisieren können. Insgesamt bietet FOUR DIMENSIONS 280SI eine hochmoderne Waafer-Test- und Messtechnik-Komponente mit beispielloser Genauigkeit, Geschwindigkeit und Wiederholbarkeit. 280SI ist eine ideale Lösung zur genauen Messung von Waferoberflächen, ideal für die Online-Überwachung und -Prüfung sowie für allgemeine messtechnische Anwendungen.