Gebraucht FOUR DIMENSIONS CV92-A #9256566 zu verkaufen

ID: 9256566
Wafergröße: 6"
Weinlese: 2007
Mercury probe CV mapper, 6" Specification: Capacitance measurement range: 0 to 20 nF Current measurement range: 50 fA to 1 ma C-V Bias available: -100 to +100 V Measurement pulse: 50 mV, 100 mV, 150 mV >20 μs for Ch>1s for Cq Wafer size: From 1 cm x 1 cm square chip to 8” round wafer Probe: Mercury dot (dot area from 2E-5 cm² to 0.8 cm²) Probe return: Through mercury ring wafer back or external connection Compressed dry air: 60 psi minimum Vacuum: 28" Hg minimum Power supply damaged 2007 vintage.
FOUR DIMENSIONS CV92-A Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine fortschrittliche automatisierte Lösung für die effiziente Waferinspektion und Messtechnik, die fortschrittliche optische, elektronische und mechanische Funktionen kombiniert. Das System besteht aus einer zentralen Steuereinheit, mehreren Prüfgeräten und einer automatisierten Steuerungsplattform XYZ. Die vierdimensionale Bewertung ermöglicht eine komplette Wafer-Test- und Messtechnik-Lösung durch eine effektive Messung von der Vorder- und/oder Rückseite des Wafers. Die zentrale Steuereinheit des Geräts verfügt über eine grafische Benutzeroberfläche, die eine direkte Kontrolle über die Einstellungen und Funktionen der Maschine bietet. Mit ihm können Bediener stationäre Messergebnisse überwachen sowie automatisierte Scanmuster für komplette Wafertests und Messtechnik einrichten. Die Automatisierung des Werkzeugs verbessert die Möglichkeiten weiter, indem eine schnelle und genaue Messung von mehreren aufeinanderfolgenden Wafern zur Verfügung gestellt wird. Die Testgestelle bieten eine wiederholbare Plattform zur genauen und zuverlässigen Prüfung des Wafers. Die Racks haben ein spezielles Design, das es ermöglicht, mehrere Testwerkzeuge gleichzeitig mit schnellen Kalibrierungen zu laden und zu testen. Zu diesen Testwerkzeugen gehören ein Laserinterferometer, ein digitales Mikroskop, eine Atomkraftmikroskopie, ein elektrischer Potentialzähler und ein dreidimensionaler Scanner. Die automatisierte Steuerungsplattform XYZ bietet eine wiederholbare und stabile Wafer-Plattform, so dass die Testracks die Test- und Messtechnik-Aufgaben auf den mehreren Wafern durchführen können. Es verfügt über eine hohe Genauigkeitskontrollauflösung, die sowohl für die Einzelwafer- als auch für die Großwaferabtastung geeignet ist. Die Plattform besteht aus einem beweglichen Arm mit einem Vakuum-Modell, das die notwendige Stabilität und Bewegungssteuerung für den Wafer bietet. Die Plattform ist ferner mit einer Kamera zur Identifizierung und Markierung des Wafers sowie zur Steuerung und Einstellung der Ausrichtung ausgestattet. FOUR DIMENSIONS CV92A ist eine komplette Wafer-Prüf- und Messtechnik, die fortschrittliche optische, elektronische und mechanische Funktionen umfasst. Sein einzigartiges Design ermöglicht die Messung mehrerer aufeinanderfolgender Wafer und bietet eine effiziente und zuverlässige Lösung. Das System umfasst auch eine grafische Benutzeroberfläche mit direkter Steuerung der Geräteeinstellungen, spezielle Design-Testracks und eine XYZ-automatisierte Steuerungsplattform, die die notwendige Stabilität für genaue Wafertests und Messtechnik bietet. All diese Merkmale machen CV 92A zu einer hochmodernen Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine.
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