Gebraucht FRT MicroProf CWL300 #9173791 zu verkaufen

FRT MicroProf CWL300 ist ein High-End-Gerät für Wafer-Tests und Messtechnik. Es ist mit leistungsstarken Bildgebungs- und Messtechnologien ausgestattet, die es ihm ermöglichen, selbst die subtilsten Veränderungen in der Waferdicke, Oberflächenebenheit und anderen Eigenschaften zu erkennen. Das System beinhaltet ein optisches Mikroskop mit 5x-50x Zoomfunktionen zur Messung von Ebenheit und Oberflächeneigenschaften, einen strukturierten Lichtflächenprofiler zur Messung von Dicke und Krümmung und eine Bildaufnahmeeinheit zur hochauflösenden Inspektion. MicroProf CWL300 bietet eine automatische Schichtdickenmesstechnik, die präzise und genaue Messungen von Waferschichten ermöglicht. Es ist auch mit einer patentierten Autofokus-Autogrammmaschine zur Tiefenmessung ausgestattet. Diese Technologie wurde entwickelt, um den Bedarf an manueller Neufokussierung zu reduzieren und ermöglicht eine schnelle und genaue Messtechnik von Waferschichten bis auf 0,3 Mikrometer. Das Tool enthält auch eine hochauflösende Bilderfassung für die Fehlerinspektion. Dadurch kann der Benutzer den Wafer schnell und einfach auf Abweichungen überprüfen. Das Modell bietet auch eine breite Palette von Funktionen und Funktionen. Es kann mit mehreren Medien arbeiten, einschließlich Quarz, Keramik, Aluminium, Edelstahl und anderen Metallen. Es kann verschiedene Wafereigenschaften messen, einschließlich Oberflächenebene, Dicke, Struktur, Oberflächenrauhigkeit, Korngröße und Kohlenstoff-Nanoröhrenzahl. Es kann auch Mikrowellen mit einem Frequenzbereich von bis zu 6 GHz messen. FRT MicroProf CWL300 wurde entwickelt, um einfach einzurichten und zu bedienen. Die intuitive Benutzeroberfläche und die On-Board-Hilfefunktion erleichtern den Benutzern die Verwendung der Geräte. Es wurde entwickelt, um wiederholbare Messungen durchführen zu können und um Bedienungsfehler zu beseitigen. Zur Ausstattung gehört auch ein Online-Service für Fernzugriff und Datenübertragung. Dies ermöglicht eine Fernüberwachung und -unterstützung, wodurch Benutzer die Leistung einfach überwachen und bei Bedarf Anpassungen vornehmen können. Abschließend ist MicroProf CWL300 ein leistungsfähiges und funktionsreiches System für Wafertests und Messtechnik. Es wurde entwickelt, um einfach einzurichten und zu bedienen und genaue, wiederholbare Messungen bereitzustellen. Mit seiner automatisierten Schichtdicken-Messtechnik, hochauflösenden Bildgebung und Remote-Service-Funktionen ist FRT MicroProf CWL300 eine ideale Wahl für diejenigen, die zuverlässige Wafer-Messtechnik suchen.