Gebraucht FRT MicroProf TTV200 #293607223 zu verkaufen

ID: 293607223
Flatness measuring system (2) Chromatics sensor CWL 600 µm With electronis interface X, Y Stage: 200x250 mm Sensor coarse approach With motorized linear axis Video view Granite base plate PC Electronics unit Manual.
FRT MicroProf TTV200 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik der nächsten Generation, die für die anspruchsvollsten Halbleiterherstellungs- und Forschungsanwendungen entwickelt wurde. Das System kombiniert einige der fortschrittlichsten Hardware- und Softwaretechnologien und ist in der Lage, die elektrischen und optischen Eigenschaften von Wafern mit ausgezeichneter Genauigkeit und Präzision zu messen. Das TTV200 integriert eine mehrachsige Stufe mit einer hochgenauen motorisierten x-y-z-Positioniereinheit. Dadurch kann die Maschine ganze Wafer präzise und zeitnah scannen und sich um verschiedene Punkte bewegen, während ein hochauflösender Sensor zur Messung von Testpunkten mit einer Wiederholbarkeit von ± 1,1 µm verwendet wird. Das Werkzeug verfügt außerdem über ein präzises lineares Laserinterferometer und eine hochauflösende CCD-Kamera. Das TTV200 wird mit der ERWE-EDGE Software geliefert, die den Aufbau der Messtechnik und die Datenanalyse vereinfacht. Dieses Softwarepaket integriert automatisierte parametrische Messungen, einschließlich Widerstand, Spannung, Strom-Spannung, Lichtemission und Leuchtdichte. FRT bietet auch eine Vielzahl von Testzubehör, wie Sonden, Nadeln und Glasfaserkabel, für verschiedene Tests und Messungen. Das TTV200 ist auch mit einer grafischen Benutzeroberfläche ausgestattet, so dass Benutzer Ergebnisse in Echtzeit visualisieren können. Dies hilft, Ausfallpunkte oder andere Probleme während des Testzyklus sofort zu identifizieren. Darüber hinaus ermöglicht die Anlage den Einsatz von Bildverarbeitungssystemen für die fortschrittliche Waferinspektion mit einem ausgezeichneten Sichtfeld von bis zu 300 µm. Insgesamt ist MicroProf TTV200 ein sehr vielseitiges, leistungsstarkes und zuverlässiges Modell für erweiterte Wafertests und Messtechnik. Das umfassende Softwarepaket und die fortschrittliche Hardware bieten Anwendern die Möglichkeit, Fehler schnell und genau zu erkennen und zu analysieren und den Produktionsprozess zu verbessern.
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