Gebraucht FRT MicroProf #9394687 zu verkaufen

FRT MicroProf ist eine hochpräzise Wafermesstechnik und Testausrüstung, die entwickelt wurde, um eine breite Palette von Waferparametern und -parametern im Zusammenhang mit fortschrittlichen Materialien zu messen und zu bewerten. Es verfügt über eine vollständige Palette von analytischen Systemen, die Wafermessungen mit Submikron-Genauigkeit anbieten, um die Anforderungen komplexer Test- und Verifizierungsoperationen zu erfüllen. MicroProf-System basiert auf FRT fortschrittliche Bildgebungstechnologie, die Submikrongenauigkeit bei der Messung von Waferparametern wie Dicke, Rauheit und vorhandenen Defekten ermöglicht. Es ist in der Lage, Parameter auf einer Reihe verschiedener Substratmaterialien abzubilden, einschließlich Halbleiterscheiben, Flachbildschirme, Photomasken und Substrate für medizinische Geräte. Es fungiert auch als fortschrittliche Plattform für den Test und die Entwicklung neuer Materialien und bietet eine Testumgebung, um die Mikrostruktur und physikalischen Eigenschaften des Materials kennenzulernen. Die FRT MicroProf-Einheit kann eine Vielzahl von Mess- und Fehlerparametern erkennen, charakterisieren und messen, einschließlich Linienbreite, Schritthöhe, Verdienstfigur, Partikelgröße, Fehlergröße und -dichte, kritische Dimension, Ätztiefe und -gleichmäßigkeit und Überlagerungsmessung. Es ist hoch in die bestehende Halbleiter-Wafer-Prozessmaschine des Benutzers integriert und bietet Echtzeit-Datenübertragung und -Mapping sowie Data-Mining-Software, die die Analyse von Daten aus mehreren Wafern vereinfacht. MicroProf nutzt ein computerautomatisiertes optisches Werkzeug und umfasst Komponenten zur Bilderfassung, Verarbeitung und Analyse. Seine schnellen Scanfunktionen und Autofokus- und Autoshuttle-Funktionen liefern präzise Messungen schnell. Es bietet auch die neuesten Fortschritte in der Bildgebung, Beleuchtung und Software-Technologie, so dass das Asset kleine Funktionen erkennen oder komplexe Daten aus mehreren Wafern analysieren kann. Die fortschrittliche Software des FRT MicroProf-Modells ermöglicht es Benutzern, Wafer-Mapping über die gesamte Waferoberfläche durchzuführen. Seine Fähigkeit, mehrere Wafer in einem synchronisierten Prozess zu messen, minimiert Referenzfehlstellungen zwischen den Wafern und macht es sehr effizient. MicroProf-Geräte unterstützen auch das Fernhandling und bieten hervorragende Flexibilität für Wafer-Handling und Durchsatz. Schließlich nutzt das System die einzigartigen optischen Eigenschaften der Proben, um die Messgenauigkeit und Zuverlässigkeit weiter zu erhöhen. Die hochgenauen Messungen und die optimierte Bildgebung ermöglichen eine genaue Interpretation der gemessenen Parameter. Darüber hinaus macht das kostengünstige Design FRT MicroProf zu einer der führenden Wafer-Messtechnik und Test-Lösungen auf dem Markt.