Gebraucht FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 #293595237 zu verkaufen

ID: 293595237
Wafergröße: 8"
Film stress measurement system, 8" Desktop computer Interface board Connection cable.
FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die zur Auswertung und Charakterisierung der Matrize auf kleinen Halbleiterscheiben verwendet wird. Es wurde von FSM Inc. als Werkzeug entwickelt, um die elektrischen, optischen und physikalischen Eigenschaften von Werkzeugen zu testen und zu messen, die auf Halbleiterscheiben montiert sind. FSM 128 System verwendet einen Cantilever-Stil Pick-up, um präzise Stempel auf dem Substrat eines Wafers zu platzieren. Es kann einzelne Werkzeuge aus einer Vielzahl von Substratmaterialien und -größen erkennen, identifizieren und messen. Es liest auch die Barcodes und liefert detaillierte Stempelcharakterisierungsinformationen. Das Gerät ist in der Lage, eine Reihe von Wafer-Level-Tests durchzuführen, wie Trägerbeweglichkeit, Kontaktwiderstand und DC-Leckagemessungen. Es enthält auch ein Rasterelektronenmikroskop, das eine atomare Ansicht der Oberfläche des Wafers ermöglicht und eine Tiefenmessung der Größe und des Abstandes der Waferoberfläche ermöglicht. FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 Maschine verfügt über hochpräzise optische Bildgebung, die es erlaubt, genau zu lokalisieren, zu inspizieren, zu messen und zu identifizieren Fehler in einzelnen Stempeln. Es bietet umfassende Analysen der elektrischen, mechanischen und optischen Eigenschaften des Wafers und bietet eine umfassende Wafertest- und messtechnische Lösung. Neben seinen Testfunktionen ermöglicht das Tool auch die Datenspeicherung und Analyse der Ergebnisse. Es bietet eine einfache Benutzeroberfläche, die eine leicht zugängliche und intuitive Bedienung ermöglicht. 128 ist ein hochentwickeltes Wafer-Test- und Messtechnik-Asset, das für eine Vielzahl von Anwendungen zur Verfügung steht. Es ist ein wertvolles Werkzeug für die Auswertung und Charakterisierung von Matrizen auf kleinen Halbleiterscheiben, das eine vollständige Kontrolle und Charakterisierung von Wafern ermöglicht.
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