Gebraucht FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 #9191053 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Tippen Sie auf Zoom
![FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 Foto Verwendet FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 Zum Verkauf](https://cdn.caeonline.com/images/fsm-frontier-semiconductor_128_827758.jpg)
![Loading](/img/loader.gif)
Verkauft
FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für die Herstellung von Halbleiterscheiben. FSM 128 ist ein Prüf- und Messsystem zur Messung kritischer Bauelementcharakteristiken von integrierten Schaltungen auf einem Halbleitersubstrat oder Wafer. Es verwendet eine vollautomatische Wafer-Ausrichteinheit, die die Wafer genau und schnell positioniert. Die Maschine umfasst eine Vier-Punkt-Sonde, eine optische Mikroskopkamera und eine CCD-Rückseitenkamera, die eine Vielzahl kritischer Waferparameter wie Formgröße, Höhe, Schwerpunkt und Steigung messen kann. Die Vier-Punkte-Sonde misst die Düsendicke und den Formwiderstand. Das Mikroskop dient zur optischen Inspektion der Matrize, um strukturelle Defekte wie Brücken, Öffnungen und kurze Hosen zu identifizieren. Die Rückseitenkamera dient zur Erfassung und Analyse von Rückseitenbildern auf Fremdmaterialkontamination und andere Oberflächen- oder Oberflächenfehler. Das Wafer-Test- und Messtechnikwerkzeug umfasst eine X-Y-Stufe mit einer präzise gesteuerten, berührungslosen Ausrichtungsanlage. Dieses Modell führt die Wafer genau über die Sonde und das Mikroskop, um die gewünschten Informationen zu erfassen. Das Gerät enthält auch ein leistungsfähiges Steuerungssoftware-Paket, das eine einfache Programmierung der Testparameter ermöglicht und eine manipulationssichere Benutzerauthentifizierung und erhöhte Sicherheit bietet. FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 verfügt über eine Tieftemperatur-Datenerfassung, die es ermöglicht, temperaturabhängige Parameter wie die Dieresistenz bei Temperaturen unter der Umgebung zu messen. Das System ist für Hochgeschwindigkeits-Wafer-Tests konzipiert und bietet Testzeiten bis zu dreimal schneller als alternative Systeme. Darüber hinaus umfasst das Gerät zahlreiche Kommunikationsschnittstellen und eine ausgeklügelte Rückverfolgbarkeit, um eine zuverlässige Datenspeicherung und -abfrage sowie eine präzise Wiederholbarkeit der Testergebnisse zu ermöglichen. Die Maschine ist auch mit einem Kalibrierwerkzeug ausgelegt, so dass Tests genau geplant und durchgeführt werden können. 128 ist in seiner Genauigkeit und Fähigkeit, komplexe Halbleiterscheiben kostengünstig zu testen, unerreicht. Dieser fortschrittliche Wafer-Test und Metrologie-Asset bietet eine breite Palette von kritischen Bauelementeigenschaften, die für den Halbleiterherstellungsprozess von entscheidender Bedeutung sind.
Es liegen noch keine Bewertungen vor