Gebraucht FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 #9396059 zu verkaufen

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 ist eine führende automatisierte Test- und Messtechnik für Wafer-Tests von optoelektronischen und Halbleiterbauelementen. Das System wurde entwickelt, um eine umfassende Palette von Messlösungen bereitzustellen, die auf die spezifischen Anforderungen der Anwendung des Geräts zugeschnitten sind. Die Gerätekomponenten umfassen sowohl integrierte als auch eigenständige Test- und Metrologiemodule, die für eine Vielzahl von Anforderungen konfiguriert werden können. Zu den grundlegendsten Modulen gehören eine Mehrkanal-Prüf- und Messstation, ein Mikrolithographiemodul, eine Sputter-Abscheideplattform, ein Beugungsmodul, ein Abbildungsgerät und eine Datenerfassungsstation. Darüber hinaus umfasst die Maschine auch ein mehrdimensionales automatisiertes Test- und Messtechnikwerkzeug, das speziell zur Prüfung und Charakterisierung von optoelektronischen und Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. FSM 128 Asset bietet auch eine hohe Flexibilität bei der Prüfung von Geräten. Das Modell unterstützt eine breite Palette von Testbedingungen, einschließlich Array-Messungen, Hochgeschwindigkeits-Hochpräzisionstests, Hochfrequenztests und Hochleistungstests. Das Gerät unterstützt zudem umfassende Fehler- und Leistungsmerkmale sowie automatisierte Analysefunktionen. Das System verwendet eine innovative kamerabasierte optische Wafer-Inspektionseinheit, um die präziseste Messung von Geräten auf Wafer-Ebene zu ermöglichen, die eine höhere Genauigkeit und schnellere Ergebnisse liefert. Die Maschine unterstützt auch ultraempfindliche Messungen, wie sie zum Charakterisieren von Geräten mit geringer Leistung erforderlich sind. Darüber hinaus ist das Werkzeug in der Lage, DC- und AC-Signale mit extrem genauen Strom- und Spannungsleitungen zu messen. Darüber hinaus verfügt FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 über eine Produktivität mit hohem Durchsatz, die nicht nur die Messung von Geräten optimiert, sondern auch die Wiederverwendung von Gerätetestdaten ermöglicht. Das Modell unterstützt auch eine breite Palette von Datenerfassungs- und Analyseoptionen, einschließlich Datenzusammenführung, Zeitbereichsspektralanalyse, parametrische Messverfahren und Gerätecharakterisierung. Insgesamt sind 128 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Geräte ein hochentwickeltes, fortschrittliches und umfassendes System, das in der Lage ist, eine Vielzahl von Prüf- und messtechnischen Anforderungen zu erfüllen. Mit seinen umfassenden Messfähigkeiten bietet das Gerät eine flexible und leistungsstarke Lösung zur Charakterisierung und Optimierung von optoelektronischen und Halbleiterbauelementen.