Gebraucht FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C #293760135 zu verkaufen

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für den Einsatz in der Halbleiterindustrie entwickelt wurde. Sie ist in der Lage, Vorrichtungen auf einem Wafer sowohl im kurzwelligen (sichtbaren) als auch im langwelligen (infraroten) Bereich optisch zu charakterisieren. Das System umfasst ein hochauflösendes optisches Mikroskop, Scanelektronik, Datenverarbeitung und -speicherung sowie hochpräzise Winkelausrichtungs- und Verschiebungsstufen. Das optische Mikroskop ist mit zwei unterschiedlichen optischen Pfaden ausgestattet, einer für den sichtbaren Bereich und der andere für das Infrarot. Jeder optische Pfad hat mehrere Linsenelemente mit einer kombinierten Vergrößerung von bis zu 1000x. Das Mikroskop kann Geräteeigenschaften wie geometrische Abmessungen, physikalische Eigenschaften, elektrische Leistung, Oberflächenstruktur, Filmdicke und mehr messen. Der sichtbare Pfad ist außerdem mit einer integrierten Autolens-Fokussiereinheit ausgestattet, um eine optimale Bildauflösung zu gewährleisten. Die Abtastelektronik ist in der Lage, Signale von Photodioden zu erfassen und zu digitalisieren. Die Signale werden dann zu hochpräzisen Karten der Geräteeigenschaften des Wafers verarbeitet. Die Scanfunktionen umfassen Block-, Verteilungs-, Flächen- und globale Scans. Die Daten können zur weiteren Analyse auf den PC exportiert oder in der integrierten Geräteprofilerstellungssoftware verwendet werden. FSM ist mit hochpräzisen Winkel- und Verschiebestufen ausgestattet, um die Linse und bewegliche Teile zu positionieren. Diese Stufen verwenden eine XYZ-Antriebsmaschine, um den Abstand und Winkel zwischen dem Objektiv und dem zu prüfenden Gerät genau einzustellen. Das Werkzeug enthält außerdem einen Nivellierkeil zur automatisierten Ausrichtung des Wafers zur gleichmäßigen Prüfung. FRONTIER SEMICONDUCTOR ist mit Komfort und Sicherheit im Auge entworfen. Es verfügt über eine integrierte Steuerungs- und Analysesoftware mit benutzerfreundlichen Bedienelementen, eine Autofokus-Funktion zur direkten Bilderfassung, einen Unfallverhütungsmechanismus und eine 500W Halogenlampe, die bis zu 30 Minuten ununterbrochene Beleuchtung bei reduziertem Stromverbrauch bereitstellen kann. Insgesamt ist FSM 128L C2C eine umfassende Prüf- und Messtechnik für Wafer, die schnelle, präzise und zuverlässige Ergebnisse liefert, die für die Halbleiterindustrie erforderlich sind. Es verfügt über optische Diagnostik, Scanelektronik, Datenverarbeitung und -speicherung, hochpräzise Stufen und Autofokus-Funktionen sowie benutzerfreundliche Kontrollen und Sicherheitsmechanismen. FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR kann verwendet werden, um Geräteeigenschaften wie geometrische Abmessungen, physikalische Eigenschaften, elektrische Leistung, Oberflächenstruktur, Filmdicke und mehr mit hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu messen.