Gebraucht FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C #9191116 zu verkaufen
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ID: 9191116
Weinlese: 2002
Film stress measurement system
Wafer bow
Dual ASYST FOUP loaders, 12"
2D & 3D Wafer mapping
Auto dual laser switching for maximum flexibility
Auto thickness measurement
Brooks robot, 017-0266-01
Controller, 002-9400-04
Pre aligner, 017-0266-01
2002 vintage.
FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für die Bewertung von Halbleiter-Testwafern. Das System arbeitet in einer Hochgeschwindigkeitsumgebung mit variabler Temperatur und ermöglicht eine umfassende Analyse von Halbleiterscheiben. FSM 128L C2C bietet eine präzise Kontrolle der Temperatur, der Feuchtigkeit und des atmosphärischen Drucks des Wafers während des gesamten Messvorgangs und sorgt für genaue Ergebnisse. FRONTIER SEMICONDUCTOR 128LC2C besteht aus 3 Hauptkomponenten - einer Wafer-Prüfstufe, einer Messstufe und einer Motor- und Steuereinheit. Die Wafer-Prüfstufe unterstützt eine breite Palette von Musterformen, -größen und -materialien und ist in der Lage, Wafer bis zu einem Durchmesser von maximal 128 mm zu testen. Die Messstufe ist sowohl mit optischen als auch elektrischen Messfunktionen ausgestattet, um Widerstand, Strom, Kapazität, Brückentests und andere elektrische Messgrößen genau zu messen. Schließlich ist die Motor- und Steuerungsmaschine für die Steuerung des Betriebs der Prüf- und Messstufen zuständig, die eine programmierbare, automatisierte Datenerfassung und bordseitige messtechnische Analyse ermöglicht. Neben den oben genannten Komponenten bietet FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C auch eine Reihe von Funktionen zur verbesserten Wafersortierung und Überwachung. Das Tool ist mit integrierten Kameras und Software zur einfachen Inline-Ausrichtung und Sortierung von Wafern ausgestattet. Es unterstützt auch die integrierte Datenanalyse und stellt Benutzern die notwendigen Werkzeuge zur Verfügung, um fehlerhafte Komponenten auf einem Testwafer zu identifizieren und zu isolieren. Schließlich ermöglicht die automatisierte Segmentierung jedes Wafers in individuell gemessene Standorte eine hochgenaue, granulare Datenberichterstattung. Insgesamt ist FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128LC2C eine leistungsstarke, vielseitige Test- und Messtechnik-Komponente, die eine präzise Prüfung von Halbleitertestwafern ermöglicht. Mit seinem schnellen, variablen Temperaturbetrieb in Verbindung mit robusten Datenberichts- und Analysewerkzeugen ist FSM 128LC2C das ideale Modell für eine konsistente und zuverlässige Halbleiterproduktion.
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