Gebraucht FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L #293595238 zu verkaufen

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die speziell für Halbleiterherstellungsprozesse entwickelt wurde. Das System verwendet ein Vollapertur-Reflektometer, das die neueste Hybrid-Scan-Technologie verwendet, um eine hervorragende Auflösung und angemessene Genauigkeit zu bieten. Das Gerät kann zur Prozessentwicklung, Produktion und Prozesscharakterisierung und -steuerung eingesetzt werden. Es verfügt über eine Submikron-Auflösung und eine stark wiederholbare, automatisierte Prozesskammer für Photomasken-Ausrichtungen, kritische Photolithographie-Parameter und Prozessoptimierung. Darüber hinaus ermöglicht die Maschine die Verarbeitung von sehr kleinen Merkmalen, neuen Materialien und komplexer Gerätegröße und Charakterisierung. Das Werkzeug ist in der Lage, Geräteparameter von über 300 verschiedenen Arten von Halbleiterbauelementen zu analysieren, einschließlich prozessintegrierter und gerätebasierter elektrischer Kennlinienmessungen. Es kann Parameter wie Leckstrom, ohmsche Kontaktwiderstände, Flachbandspannungen und elektrische Schwellen messen. Mit seinem Vibrationsspiegel und der prismenbasierten optischen Konfiguration können FSM- 128L Position und Intensität unabhängig voneinander steuern, was zu extrem zuverlässigen Daten mit Genauigkeiten im niedrigen PPM-Bereich führt. Das Asset verfügt über eine integrierte optische Messtechnik und einen dedizierten Host-Computer. FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L bietet auch erweiterte Metrologie-Funktionen. Es verfügt über die Fähigkeit, leistungsbezogene Eigenschaften von Oberflächenfehlerstrukturen auf statistischer, Element-, Merkmals- und Geräteebene zu identifizieren und zu messen und zu untersuchen. Durch die Kombination von Wafer-Oberflächenbildanalyse, x-y-Stufenscannung, longitudinalen Scans und Querschnittsscans kann das Modell Daten für eine Vielzahl von In-Process-Anwendungen sammeln. Die Ausrüstung ist extrem einfach zu bedienen und zu verwalten. Seine intuitive grafische Oberfläche ermöglicht eine einfache und dennoch leistungsstarke Bedienung des Systems. Der Benutzer kann problemlos Rezepte für Wafertests erstellen und löschen sowie auf vorhandene zum Anzeigen oder Bearbeiten zugreifen. 128L ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit, die sich durch Prozessentwicklung, Produktion, Prozesscharakterisierung und -steuerung sowie Messtechnik auszeichnet. Mit seiner hohen Genauigkeit, Wiederholbarkeit, Benutzerfreundlichkeit und fortschrittlichen Messtechnik ist es eine ausgezeichnete Wahl für jeden Halbleiterherstellungsprozess.