Gebraucht FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 500TC #9228363 zu verkaufen

ID: 9228363
Weinlese: 2007
Thin film thickness measurement system 2007 vintage.
FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 500TC ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für Online-, Inline- oder Offline-Prüf- und Messtechnik-Anwendungen. Dieses System bietet Anwendern hochpräzise Tests und Messtechnik mit Scan-and-Analyze-Fähigkeit. Es ermöglicht genaue Berechnungen verschiedener Parameter wie Partikelgröße, Oberflächenrauhigkeit, Ätztiefe, Ausbeute und andere kritische Parameter. Die FS500TC wird von einer leistungsstarken, Linux-basierten Bedieneinheit angetrieben. Dieses Betriebssystem wurde für Low-Level-Schnittstellen, leistungsstarke Ausführung und Datenerfassung optimiert. Es enthält eine Reihe von APIs und Bibliotheken, so dass Anwendungen von Drittanbietern die Computer-Schnittstelle und -Steuerung ermöglichen. Das FS500TC ist mit einer Reihe von leistungsstarken, voll integrierten Wafer-Test- und Metrologiewerkzeugen ausgestattet. Dazu gehören verschiedene Scanmikroskopopopien und bildgebende Sensoren, hochauflösende Kameras, Spektrometer und fortschrittliche optische Faserwerkzeuge, die zusammenarbeiten, um eine genaue Datenerfassung zu ermöglichen. Das FS500TC ist ein kompaktes, eigenständiges Werkzeug, ausgestattet mit fortschrittlicher Steuerungssoftware. Diese Software ermöglicht eine umfassende Steuerung von Anlagenteilen, einschließlich Montagesystemen, Stützsystemen, Orientierungssystemen und Motorsteuerungen. Es ermöglicht auch die Fernüberwachung und den Datenaustausch zwischen Benutzerlabors. Das FS500TC bietet darüber hinaus eine fortschrittliche Fehlererkennung, die es ermöglicht, eine Vielzahl von Defekten und Partikeln im getesteten Wafer zu erkennen und zu klassifizieren. Es kann auch eine Fehlerüberprüfung durchführen - mit einem automatisierten Verfahren, bei dem die gesammelten Beweise überprüft und analysiert werden; Diese Funktion ist von unschätzbarem Wert bei der Gewährleistung der Datengenauigkeit. Die Metrologie des FS500TC ermöglicht hochpräzise Messungen über die gesamte Waferoberfläche. Es umfasst umfassende CCD-Fähigkeiten, erweiterte Partikelanalysen und erweiterte Oberflächenmessungen. Darüber hinaus ermöglicht es die Erkennung von Merkmalen wie Löcher, Beulen und Kanäle; und akzeptiert verschiedene internationale Metrologiestandards. Insgesamt ist FSM 500TC ein leistungsstarkes, innovatives Test- und Messtechnikmodell für fortschrittliche Fertigungsprozesse. Es bietet hohe Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Skalierbarkeit und ist die ideale Wahl für eine breite Palette von Fertigungsanwendungen.
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