Gebraucht FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 7800 iTC #9117962 zu verkaufen

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 7800 iTC ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um die Prüfung von Halbleiterbauelementen zu erleichtern. Das System bietet hochpräzise Messungen und Echtzeittests, was es zu einer idealen Wahl für kritische Analyseaufgaben macht. FSM 7800 iTC verwendet mehrere verschiedene Technologien, um Halbleiterscheiben genau zu messen und zu charakterisieren. Das Gerät verwendet eine iterative Messschleife mit einem robusten Satz automatisierter Test- und Messalgorithmen. Dies hilft bei der schnellen und genauen Analyse der Waferleistung und ermöglicht eine effizientere Nutzung von Zeit und Ressourcen. Darüber hinaus kann die Maschine mit bis zu sechs getrennten Kanälen konfiguriert werden, was eine wesentlich höhere Flexibilität bei der Erfüllung der Anforderungen verschiedener Halbleitergeräteprüfprotokolle ermöglicht. Die breite Palette der optischen Abfragetechniken von FRONTIER SEMICONDUCTOR 7800 iTC ermöglicht es, eine Vielzahl von Eigenschaften wie Gate-Leckstrom, Transistor und Junction-Leckstrom, Kontaktwiderstand, Übergangsspannung und mehr zu messen. Dies macht es eine gute Wahl für die Prüfung einer breiten Palette von Geräten. Darüber hinaus stellt die zerstörungsfreie Wafer-Charakterisierung des Werkzeugs sicher, dass die Wafer bei abgeschlossener Prüfung intakt bleiben können. Das Asset enthält auch eine Vielzahl automatisierter Funktionen, die Testprozesse vereinfachen können. Das Modell kann mit einer Vielzahl automatisierter Testparameter konfiguriert werden, was eine erhöhte Konsistenz und Genauigkeit während des Messvorgangs ermöglicht. Darüber hinaus trägt seine Automatisierung auch dazu bei, die Ausfallzeiten zu reduzieren, die beim manuellen Testen auftreten können. Insgesamt ist 7800 iTC eine außergewöhnliche Wahl für die Prüfung und Messtechnik von Halbleiterscheiben. Mit seinen hochpräzisen Mess- und Echtzeit-Testfunktionen erfüllt FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 7800 iTC sicher die Anforderungen selbst komplexester Halbleiterbauelement-Testprotokolle.