Gebraucht FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800 #56901 zu verkaufen
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FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung von FSM/FRONTIER, um verschiedene Eigenschaften von Halbleitern zu messen. Es bietet eine vollständige Prüfung und Analyse von Halbleiterscheiben während ihrer Herstellung, so dass notwendige Anpassungen vorgenommen werden können, um die Qualität des Endprodukts zu verbessern. FSM 8800 besteht aus zwei Hauptfunktionsteilen: einer Prüfstation und einer Metrologie-Station. Die Prüfstation dient zur Überprüfung der Genauigkeit und Gleichmäßigkeit von Waferparametern. Es wurde entwickelt, um schnell eine Reihe von Parametern zu testen, einschließlich Widerstand, Spannung, Strom und Kapazität. Es ist in der Lage, 0 bis 5 Volt Gleichstrom und maximal 150 nA Strom zu testen. Die Metrologiestation misst physikalische Merkmale wie Topographie, Dicke, Oberflächenrauhigkeit, Textur und elektrische Eigenschaften. Es ist in der Lage, Merkmalsgrößen bis zum Nanometerspiegel zu messen. FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800 System hat mehrere Funktionen, die es ideal für Wafer-Prüfung und Messtechnik machen. Es ist mit einer mehrkanaligen optischen Schnittstelle ausgestattet, die Waferdaten schnell erfassen kann. Diese Daten können mit der mitgelieferten Software analysiert werden, die es Ingenieuren ermöglicht, Kurzschlüsse, niedrigere Widerstände, hohe Stromdichten und andere Probleme zu finden. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine benutzerfreundliche Oberfläche, die Setup und Kalibrierung einfach macht. 8800 Maschine ist nicht nur auf Waferebene, sondern auch auf Einzelkomponenten analysierbar. Es kann die elektrischen Eigenschaften der einzelnen Komponenten wie Widerstand, Spannung, Strom und Kapazität sowie physikalische Merkmale wie Topographie, Dicke und Oberflächenrauhigkeit messen. Darüber hinaus hat es die Fähigkeit, Ungleichmäßigkeiten aufgrund von Fertigungsvarianzen zu erkennen und zu analysieren. Fazit: FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800 ist ein leistungsstarkes Mess- und Prüfwerkzeug für Halbleiterhersteller. Mit diesem Asset können Ingenieure schnell Eigenschaften testen und messen, die mit der Genauigkeit und Gleichmäßigkeit von Waferparametern, Topographie, Dicke, Oberflächenrauhigkeit, Textur, Widerständen, Spannung, Strom und Kapazität zusammenhängen. Darüber hinaus ermöglicht die benutzerfreundliche Oberfläche und mitgelieferte Software eine einfache Einrichtung und Analyse.
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