Gebraucht FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800 #9400273 zu verkaufen

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800 ist eine leistungsstarke, voll funktionsfähige und kostengünstige Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die hohe Geschwindigkeit, extrem geringe Rauschmessungen und hochauflösende Messgenauigkeit bietet. Dieses System bietet eine breite Palette von Wafer-Prüf- und Messtechnik-Funktionen sowie eine integrierte Kartierungs- und Messeinheit, die die automatisierte Prüfung größerer Waferdurchmesser ermöglicht. Die Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine besteht aus drei Hauptkomponenten, die ein optisches CCD-Mikroskop, einen hochgenauen, speziellen Messrahmen und ein integriertes Mikrocontroller-basiertes Elektronikpaket umfassen. Das optische CCD-Mikroskop verfügt über eine große Apertur, eine hochauflösende und rauscharme Detektoranordnung, die die Leistung von ebenen und vertikalen Strukturen in einer Vielzahl von Wafergrößen messen kann. Der integrierte Messrahmen ermöglicht eine genaue und wiederholbare Ausrichtung der CCD-Optik, die eine kritische Untersuchung und Charakterisierung von Teststrukturen während des Testprozesses ermöglicht. Das auf Mikrocontroller basierende Elektronikpaket bietet anspruchsvolle Steuerungsfunktionen, die eine Präzisionskontrolle auch für detaillierte und hochgenaue Messungen ermöglichen. Das Paket integriert einen Analog-Digital-Wandler (ADC) mit einem digitalen Ausgang, der eine Automatisierung ermöglicht. Darüber hinaus bietet es eine einstellbare Stromversorgung mit einem internen Spannungsregelkanal, die eine ausgezeichnete Wiederholbarkeit der Messungen ermöglicht. Schließlich bietet FSM 8800 auch eine Reihe fortschrittlicher Softwarefunktionen, einschließlich On-the-Fly-Parametereinstellungen, automatisiertes Mapping, beschleunigtes Defekt-Targeting und verschiedene andere Funktionen, die die Effizienz des Testprozesses maximieren. Zusammenfassend ist FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800 ein leistungsfähiges und kostengünstiges Wafer-Testwerkzeug, das die Fähigkeit bietet, zuverlässige und genaue Messungen durchzuführen. Es ist mit einem hochmodernen optischen Mikroskop, einem überlegenen Messrahmen und einer Reihe von automatisierten und on-the-fly Parametereinstellungen ausgestattet. Diese Anlage eignet sich perfekt für die Prüfung und Charakterisierung von Wafern mit hoher Dichte oder Komponenten.