Gebraucht FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 C2C #9248258 zu verkaufen

ID: 9248258
Weinlese: 2002
Film stress measurement system 2002 vintage.
FSM / GRENZHALBLEITER-FSM 128 C2C Oblatenprüfung und Metrologieausrüstung von FSM (GRENZHALBLEITER) sind eine automatische Hochleistungsoblatenmetrologie, und Probekontrolleur hat vorgehabt, genaue, schnelle und zuverlässige Maße für bis zu 128 Oblaten auf einmal zu bieten. Das System beinhaltet die Verwendung einer motorisierten 6-Achsen-Stufe, die die Wafer in einem kreisförmigen Muster antreibt, das eine genaue Positionierung der Wafer innerhalb der Einheit ermöglicht. Dies gewährleistet eine genaue Messung der Merkmale auf dem Wafer, wodurch die Maschine effizient und mit der erwarteten Genauigkeit arbeiten kann. Das Werkzeug ist mit einer proprietären Düsenaufsatz-Technologie ausgestattet, die das automatische Be- und Entladen von Wafern und Düsen ermöglicht. Dies gewährleistet einen reibungslosen Ablauf bei der Prüfung jedes Wafers und ermöglicht eine geringere Verschwendung von Waferraum. Das Asset nutzt die erweiterte Vision-Erkennung und Analyse der Wafer, um ein genaues Auslesen der Matrize zu ermöglichen und gleichzeitig das Fehlerpotenzial zu minimieren. Dadurch wird sichergestellt, dass die an den Wafern durchgeführten Tests genau und konsistent sind, was sowohl Zeit als auch Kosten spart. Das Modell nutzt auch laserbasierte Messtechniken zur Messung der Formen, Größen und Muster auf der Waferoberfläche. Dies ermöglicht präzisere und genauere Messungen im Vergleich zu herkömmlichen Methoden. Die laserbasierten Messtechniken sind auch in der Lage, Merkmale auf den Wafern viel schneller als manuelle Methoden zu messen, um sicherzustellen, dass der Durchsatz nicht beeinträchtigt wird. Schließlich ist die Ausrüstung kompatibel mit einer Vielzahl von Produkten und Teilen, so dass es ein sehr vielseitiges Werkzeug. Es kann für verschiedene Arten von Wafern und Teilen wie Speicher, CPU, gedruckte Schaltungen und Mikrochips verwendet werden. Dieses hohe Maß an Kompatibilität stellt sicher, dass das System für eine breite Palette von Tests genutzt werden kann und ist eine große Bereicherung für jede Organisation. FSM FSM 128 C2C Wafer Testing and Metrology Unit ist eine schnelle, effiziente und kostengünstige Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die präzise und genaue Ergebnisse für eine breite Palette von Produkten und Teilen liefert. Das Tool nutzt fortschrittliche Technologien wie die Anbringung von Stempeln, die Seherkennung und die laserbasierte Messtechnik sowie eine motorisierte 6-Achsen-Stufe, um seine hohe Leistung zu erreichen. Mit seinen vielseitigen Anwendungen und erschwinglichen Kosten ist FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 C2C eine ausgezeichnete Wahl für jedes Unternehmen, das Komponenten schnell und genau testen und messen möchte.
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