Gebraucht FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 #293822788 zu verkaufen
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FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 von FSM ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entworfen wurde, um präzise und präzise Messtechnik auf Wafer und stirbt zu bieten. Zur genauen Messung der elektrischen, optischen und physikalischen Eigenschaften integrierter Schaltungen (ICs) auf der Düsenebene wird ein Wafertest- und Messsystem wie FSM 128 verwendet. FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM-128 ist mit einer fortschrittlichen Erkennungsmaschine ausgestattet, die traditionelle Kantenerkennung und Interpolation verwendet, sowie die neuesten Konstruktions- und Analysetechniken zum Auffinden von Fehlern. Das Gerät verwendet fortschrittliche Geometriemesswerkzeuge, um die kritischen Bereiche des Chips zu identifizieren, in denen Abweichungen von der Konstruktion zu Fehlfunktionen oder Ertragsverlusten führen können. Es verwendet dann eine Kombination von bildgebenden Techniken, um Inspektion und Messung dieser kritischen Bereiche durchzuführen. FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 ist mit einer modularen Plattform gebaut, so dass Kunden die Maschine anpassen und die Funktionen auswählen können, die sie auf ihrem Wafer-Test und Messtechnik-Tool benötigen. Mit dieser modularen Plattform erhalten Kunden auch eine höhere Flexibilität in der Asset-Konfiguration. FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 verfügt auch über eine Reihe von hochmodernen Bilderfassungsfunktionen. Mit der Kamerabühne kann FSM FSM 128 Vollfeldbilder der Matrizenoberfläche aufnehmen. Es verfügt auch über ein automatisiertes Die-to-Die-Bild-Nähmodul, das die einzelnen Bilder separater Werkzeuge automatisch zusammenfügen kann, sodass ein Benutzer die gesamte Werkzeugoberfläche in einem Bild betrachten kann. FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM-128 verfügt auch über eine automatisierte Fehlerinspektion, die eine schlanke Inspektion und Analyse von Proben ermöglicht. Es kann eine Reihe von Defekten erkennen, einschließlich Linienenden, Fremdmaterial, Kratzer und kurze Hosen. Darüber hinaus umfasst FSM-128 eine Vielzahl von Messfähigkeiten, wie elektrische Messungen, optische Reflexion, Dunkelstrom, Helligkeit und andere. Diese fortschrittlichen Sensoren ermöglichen eine feinere Messung als herkömmliche Systeme und bieten eine höhere Genauigkeit und Wiederholbarkeit. Zusätzlich kann das Modell die Dicke der elektrischen Dielektrika messen, was eine genauere Charakterisierung von ICs ermöglicht. Es kann auch die Gleichmäßigkeit der Oberfläche der Matrize messen, was für die Produktqualitätssicherung wichtig ist. Insgesamt ist 128 von FRONTIER SEMICONDUCTOR eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die eine präzise und präzise Messtechnik auf Wafern und Werkzeugen ermöglicht. Mit modularem Aufbau, High-End-Erkennungsmotor, automatisierter Fehlerinspektion, fortschrittlicher Bildaufnahme und Messung bietet FSM FSM-128 Kunden eine umfassende Lösung für ihre Anforderungen an Wafertests und Messtechnik.
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