Gebraucht FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128NT #201040 zu verkaufen

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128NT Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine automatisierte Test- und Messlösung, die Halbleiterfabriken hilft, die hohen Zuverlässigkeitsziele des heutigen Herstellungsprozesses zu erreichen. FSM 128NT ist für ein breites Spektrum an Technologien optimiert, von tiefen Submikronen bis hin zu MEMS und Optoelektronik, und verwendet die neuesten zerstörungsfreien Testtechnologien, um Erträge zu validieren und eine gleichbleibende Qualität zu gewährleisten. Das System bietet fortschrittliche automatisierte Wafer-Test- und Analysefunktionen, die es Halbleiterunternehmen ermöglichen, ein höheres Maß an Prozesskontrolle und Prozesssicherheit zu erreichen. Es verwendet eine Kombination aus Bewegungssteuerungs- und Optiktechnologien, einschließlich einer hochauflösenden, fähigkeitsbasierten optischen Messtechnik-Einheit und mehrzonigen, multifunktionalen Bewegungssteuerungstechnologien. Automatisierte Fehlererkennung und Überprüfung ermöglichen schnelle, hochgenaue Testergebnisse. FRONTIER SEMICONDUCTOR 128-NT ist mit einer leistungsstarken grafischen Benutzeroberfläche ausgestattet, die ein einfach zu bedienendes und intuitives Erlebnis bietet. Seine Standardsoftware macht es einfach, anzupassen und zu warten; zusätzliche Funktionen ermöglichen es Benutzern, in Echtzeit auf Testergebnisse über ein Netzwerk zuzugreifen und diese zu überprüfen. Darüber hinaus bietet die Maschine hochmoderne Prozesskontrollfunktionen, einschließlich Fehlerklassifizierung und Überprüfung, um die Time-to-Market zu verringern und die Wafer-Testergebnisse zu verbessern. Die Hardware des Werkzeugs wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Wafergrößen von 3,2 Zoll bis 200 mm sowie eine Reihe von Testtechnologien zu unterstützen, einschließlich parametrischer und transienter Analysen und Tests auf Paketebene. Die Anlage umfasst Vorserientestlösungen, mit denen Konstrukteure automatisierte Tests an Prozessen mit unterschiedlichen Testplänen und Toleranzen durchführen können. Mit 128NT werden die Testzeiten drastisch reduziert und die Produktionsprozesse effizienter. Der automatisierte Test- und Analyseprozess kann die Verarbeitungszeit in der Regel um 10 bis 20 Prozent verkürzen und wertvolle Produktionszeiten freisetzen. Darüber hinaus bieten Datenanalysefunktionen, wie die statistische Prozesskontrolle, genaue und wiederholbare Ergebnisse. Darüber hinaus ist FSM 128-NT hochgradig konfigurierbar und bietet eine Reihe von Funktionen, die es seinen Benutzern ermöglichen, ihren Test- und Analyseprozess für optimale Ergebnisse anzupassen. Erweiterte Funktionen, wie die Mehrfachmustererkennung, ermöglichen es dem Modell, subtile und schwer erkennbare Fehler zu identifizieren und zu klassifizieren, die mit manuellen Tests oft schwer zu identifizieren sind. Darüber hinaus bietet die Anlage eine modulare Inspektion und Abmeldung in Bereichen, in denen die manuelle Inspektion schwierig oder zeitaufwendig ist. FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128-NT ist ein fortschrittliches Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, ideal für die Gewährleistung der hohen Zuverlässigkeit von Halbleiterherstellungsprozessen. Die automatisierten Test- und Analysefunktionen sind so konzipiert, dass sie hochgenau, wiederholbar und effizient sind und die Markteinführungszeit reduzieren und gleichzeitig die Erträge verbessern. Das Gerät ist mit einer Vielzahl von Technologien kompatibel und bietet umfassende Datenanalysefunktionen für genaue, wiederholbare Ergebnisse.