Gebraucht GCA / TROPEL II-150 #9285600 zu verkaufen

GCA/TROPEL II-150 Wafer-Prüf- und Messtechnik ist eine fortschrittliche und hochautomatisierte Lösung für die Messtechnik flacher, ebener Oberflächen von Halbleiterbauelementen wie Siliziumscheiben. Es führt eine Vielzahl von kritischen Oberflächenmessungen mit hoher Genauigkeit durch und verwendet ein optisches Mikroskop mit geringer Vergrößerung, das mit Bühnen-, Ausrichtungs- und bildgebenden Komponenten integriert ist. GCA II-150 hat einen maximalen Dynamikbereich von bis zu 300 Mikron und kann von sehr kleinen bis sehr großen Mustern messen. Es kann bis zu 8 × 10 Gerät messen und es ist entworfen, um den Einfluss des Bedieners auf die Genauigkeit der Ergebnisse zu minimieren. Das System umfasst eine fortschrittliche Bildaufnahmeeinheit, die eine gleichzeitige Erfassung mehrerer Bilder derselben Oberfläche ermöglicht und eine verbesserte Bildqualität und automatische Optimierung der Bildaufnahmebedingungen ermöglicht. TROPEL II-150 nutzt eine 4-Punkt-Ausrichtung Scannen Tech-Nique für die automatische Registrierung von mehreren Bildern. Auf diese Weise kann die Maschine die gesamte Fläche mit Mikron-Genauigkeit abbilden. Das Tool enthält auch eine Reihe von analytischen Werkzeugen für die 3D-Bildgebung, die die Erkennung von Oberflächenfehlern aus Fremdmaterial oder Unregelmäßigkeiten bis zu 10 nm ermöglichen. Das Asset umfasst einen leistungsstarken automatisierten ebenen Oberflächenemitter, der eine kritische Fähigkeit zur Messung von gemusterten Oberflächen bietet. Diese Funktion gewährleistet konsistente, wiederholbare Ergebnisse für Ebenheitsmessungen und ermöglicht eine genauere Replikation komplexer Formen. Die Total Focus-Technologie des Modells erfasst alle Daten aus mehreren Tiefen gleichzeitig innerhalb des Geräts, was eine verbesserte Oberflächencharakterisierung ermöglicht. II-150 ist eine einfach zu bedienende und äußerst zuverlässige Ausrüstung, die genaue, wiederholbare Ergebnisse für die Messung jeder ebenen Oberfläche gewährleistet. Es eignet sich gut für den Einsatz in jeder Halbleiterherstellungsumgebung und ist eine kostengünstige Lösung für Messtechnik und Wafertests.