Gebraucht GERMANY DEKTAK 150 #9315626 zu verkaufen

GERMANY DEKTAK 150 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur genauen Messung kritischer Bauteilmerkmale auf Halbleitersubstraten. DEKTAK 150 verwendet einen kontinuierlichen Abtastlaserstrahl, der auf einer vertikalen Abtastkopfeinheit montiert ist. Dieses anspruchsvolle System wurde entwickelt, um die Oberfläche von Wafern bis zu 6 Zoll Durchmesser mit Präzision bis zu 0,5 Nanometern genau zu messen. Damit eignet sich GERMANY DEKTAK 150 ideal für die Messung kritischer Merkmale wie Schritthöhen, Oberflächenprofile und Oberflächenebenheit auf Siliziumscheiben in einer Vielzahl von Branchen wie Halbleiter, Medizinprodukt und Automobil. DEKTAK 150 hat die Fähigkeit, eine Vielzahl von Merkmalen zu messen, von einzelnen Schritten bis hin zu komplexen Mustern, und kann Oberflächen mit sehr feinen Linienbreiten oder kleinen Oberflächenfehlern analysieren. Das Gerät verwendet auch eine Vielzahl von anspruchsvollen Bildanalyse-Algorithmen, die Oberflächenmerkmale und Unregelmäßigkeiten erkennen und analysieren können. GERMANY DEKTAK 150 ist mit einer Vielzahl von bildgebenden Technologien wie Videomikroskopie, Lasermikroskopie, faseroptische Interferometrie und Nahfeldbildgebung ausgestattet, die alle zur Aufnahme von Bildern der Komponenten in 3 Dimensionen verwendet werden können. Neben den fortschrittlichen bildgebenden Funktionen verfügt DEKTAK 150 über eine adaptive Laserleistungsmaschine, die eine gleichbleibende Scanqualität und die genauesten Messungen gewährleistet. Das Werkzeug bietet zudem eine dynamische Fokussierung, die unabhängig vom Winkel der zu messenden Fläche eine optimierte Fokussierung ermöglicht. DEUTSCHLAND DEKTAK 150 ist auch mit hochgenauen linearen Rückkopplungsmotoren ausgestattet, die präzise x-, y- und z-Abtastbewegungen ohne Vibrationen gewährleisten. Schließlich enthält das Asset modernste Software, die eine Vielzahl hilfreicher Funktionen wie eine Bibliothek mit Standard-Messfunktionen, Echtzeit-Prozessüberwachung, Live-Bildanalyse, Ereignisprotokollierung, intuitive grafische Benutzeroberfläche, Schnellanalyse-Setup und Datenübertragungsfunktionen bietet. Die benutzerfreundliche Software erleichtert die Auswahl von Messparametern, die Interpretation von Ergebnissen und die Ausgabe von Daten in verschiedenen Dateiformaten. Insgesamt ist DEKTAK 150 ein ideales Wafertest- und Metrologiemodell für verschiedenste Branchen. Seine fortschrittlichen bildgebenden Funktionen und ausgefeilten Softwarefunktionen in Verbindung mit seiner zuverlässigen Scanqualität und Genauigkeit machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug zur genauen Messung kritischer Komponenten auf Halbleitersubstraten.