Gebraucht GOM (Wafer-Prüfung und Messtechnik) zu verkaufen

GOM, ein renommierter Hersteller, bietet Wafer-Prüf- und Messtechnik-Geräte, die eine entscheidende Rolle bei der Sicherstellung der Qualität und Präzision von Halbleiterscheiben spielen. Diese Systeme sind so konzipiert, dass sie verschiedene Oberflächenparameter und Eigenschaften der Wafer messen und eine umfassende Prüfung und Analyse ermöglichen. Eines der herausragenden Produkte von GOM ist das ATOS III Triple Scan System, das fortschrittliche 3D-Scantechnologie verwendet, um hochauflösende Oberflächendaten von Wafern zu erfassen. Dieses System bietet schnelle und genaue Messungen, die eine effiziente Qualitätskontrolle bei der Herstellung von Wafern ermöglichen. Darüber hinaus bietet es umfassende Datenanalysefunktionen für die eingehende Auswertung. Ein weiteres bemerkenswertes System von GOM ist der ATOS SO 4M, der speziell für Halbleiterscheiben konzipiert ist. Dieses System integriert hochauflösendes Scannen und bietet detaillierte Messmöglichkeiten, die eine Bewertung kritischer Merkmale wie Filmdicke, Oberflächenprofil und Topographie ermöglichen. Es gewährleistet zuverlässige und präzise Testergebnisse und trägt zu verbesserter Waferqualität und Produktionseffizienz bei. Die Wafer-Prüf- und Messtechnikeinheiten von GOM haben mehrere Vorteile, darunter berührungslose Messtechniken, Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung und Automatisierungsfunktionen. Diese Maschinen ermöglichen die Inspektion von Wafern mit komplexen Geometrien und können schnell mit großen Datenmengen umgehen. Darüber hinaus liefern sie rückverfolgbare und wiederholbare Messergebnisse, sorgen für eine genaue Auswertung der Wafereigenschaften und minimieren Produktionsfehler. Insgesamt bieten die Wafer-Prüf- und Metrologiewerkzeuge von GOM, wie ATOS III Triple Scan und ATOS SO 4M, fortschrittliche und zuverlässige Lösungen für eine umfassende Qualitätskontrolle und präzise Messung von Halbleiterscheiben.