Gebraucht HANDTMANN PBZ DL 5 #9043099 zu verkaufen

HANDTMANN PBZ DL 5 ist eine hochpräzise Wafer-Prüf- und Messtechnik, die eine hervorragende Analyse und Inspektion von ICs und Wafern ermöglicht. Es ist für die Prüfung und Charakterisierung von Waferspiegeldefekten, Partikelverunreinigungen usw. ausgelegt, die zu Ertragsverlusten führen. PBZ DL 5 integriert eine Reihe wichtiger Merkmale, um die Genauigkeit und Geschwindigkeit der Analyse und Inspektion zu verbessern. Es beinhaltet eine Präzisionsskala zur Messung der Waferdicke mit einer Elastizität von 1 μ m. Das System ist mit einem Präzisionsoptikmodul und einem ergonomischen Design ausgestattet, das eine präzise und schnelle Ausrichtung von Wafern und ICs ermöglicht. Die laterale Auflösung von Sub-Mikron wird durch eine Mischung aus optischer Verbesserung und einer Hochgeschwindigkeits-Abtasteinheit erreicht. Darüber hinaus verfügt HANDTMANN PBZ DL 5 über ein breites Spektrum an Analyse- und Fehlercharakterisierungswerkzeugen zur umfassenden Fehleranalyse. Es ist auch mit bahnbrechender Fehlerdiagnosetechnologie für Partikelverunreinigungen und Wafer-Füllstandsdefekte ausgestattet. Diese Technologie wird verwendet, um elektrische Ausfälle durch mikroskopische Partikel zu erkennen und Bildmuster zur Analyse von Durchlochfehlern zu scannen. Darüber hinaus ist seine Partikeldetektionsfähigkeit in der Lage, die Größe, den Ort und die Anzahl der Partikel genau zu messen, was hilft, die Quelle der Partikelverunreinigung zu identifizieren. PBZ DL 5 verfügt über eine AccuPatch-Option, eine leistungsstarke Datenerfassungsmaschine, die Datenanalysefähigkeit und Unterstützung für den Fehlerdiagnoseprozess bietet. Dies hilft, den Fehlerdiagnoseprozess zu beschleunigen und Ertragsverlustprobleme zu vermeiden. Darüber hinaus verfügt HANDTMANN PBZ DL 5 über eine Reihe von messtechnischen Werkzeugen wie parametrische Tests, On-Chip-Tests und Rasterelektronenmikroskopische Bildgebung (SEMI). Dies hilft, eine gründliche Messtechnik von Wafern und ICs mit effizienter und zuverlässiger Bewertung bereitzustellen, die eine vollständige Analyse von ICs und Wafern ermöglicht. Schließlich ist das erweiterte Softwarepaket mit CAD/CAE/FEA/analog/RF-Tools kompatibel, die den Entwicklungsprozess erleichtern. Die Integration von Software von Drittanbietern ermöglicht eine umfassendere Datenanalyse. Mit der Kombination verschiedener Merkmale bietet PBZ DL 5 eine einzigartige Kombination von Funktionen für Wafertest und Messtechnik.