Gebraucht HANRA HRI 580L #293635049 zu verkaufen

HANRA HRI 580L ist eine spezialisierte Wafer-Prüf- und Messtechnik für die Charakterisierung von Halbleitermaterialien. Das System verfügt über ein einzigartig gestaltetes optisches Mikroskop, ein Laserscanmikroskop und eine Schreibstation, die eine automatisierte Prüfung von Wafern ermöglicht. Diese Einheit eignet sich für Nanometer-Pegelbeobachtungen von nanoelektronischen Geräten, zur Messung von Topographie, elektrischen Eigenschaften und mehr. Das LSM-Modul (Laser Scanning Microscope) verwendet ein optisches Mikroskop in Kombination mit Laseroptik, um die Topographie zu messen, was eine Auflösung von bis zu 1 nm über ein großflächiges Bild ermöglicht. Diese Maschine kann Waferdefekte identifizieren und Oberflächenmorphologie überwachen. Das LSM sorgt auch dafür, dass die abgetasteten Bilder durch Laserpositionierungstechnik genaue Koordinaten enthalten. Die automatisierte Schreibstation von HRI 580L ermöglicht hochpräzise Schreibaufgaben ohne manuelle Bedienung. Es verwendet korrigierbare Jets, die auf die gewünschte Schreibbahn ausgerichtet sind und ein Minimum an mikrogenauen Schreibauflösungen erreichen können. Diese Schreibstation ermöglicht automatisierte Aufgaben auf Waferebene wie topographische Analyse, Overlay-Kalibrierung und elektrische Eigenschaftenanalyse. HANRA HRI 580L ist für High-End-Test- und Messtechnik-Anwendungen konzipiert und bietet alle hierfür notwendigen Funktionen. Dies geschieht mit einer integrierten Touch-Panel-Schnittstelle und hochspezifischen Komponenten, die Genauigkeit und Zuverlässigkeit gewährleisten. Das Werkzeug hat einen Arbeitsbereich von bis zu 10 Zoll Durchmesser, so dass größere Aufgaben skalierbar sind. Darüber hinaus verfügt das Asset über einen großen Dynamikbereich, der mehr Flexibilität und Anwendungsmöglichkeiten ermöglicht. Insgesamt ist HRI 580L ein spezialisiertes Wafer-Prüf- und Metrologiemodell zur Charakterisierung von Halbleitermaterialien. Das Gerät besteht aus einem einzigartig gestalteten optischen Mikroskop, einem Laserscanmikroskop und einer automatisierten Schreibstation. Diese Kombination von Funktionen ermöglicht eine genaue und zuverlässige Prüfung von Nanometerspiegelbeobachtungen von nanoelektrischen Geräten, Topographie, elektrischen Eigenschaften und mehr. Als solches steht dieses System als High-End-Lösung für eine breite Palette von Wafertest- und messtechnischen Anwendungen.