Gebraucht HEIDENHAIN ND 281B #293643227 zu verkaufen

HEIDENHAIN ND 281B ist eine voll ausgestattete Wafer-Prüf- und Messtechnik, die mit einer Laser-Interferenz-basierten Technologie die lokalen Oberflächeneigenschaften von Halbleiterscheiben zerstörungsfrei misst. Das System bietet langfristige Wiederholbarkeit und Genauigkeit für die Erzeugung von Daten über Oberflächenkonturen, Oberflächendefekte und Oberflächentopographie. ND 281B umfasst eine hochpräzise Translationsstufe von 500 mm x 600 mm mit einer 5 nm Schrittauflösung, die eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit ermöglicht. Es enthält auch eine In-Plane-Bewegungseinheit mit einer Submikron-Bereichsauflösung. Zusätzlich verwendet die Maschine ein Laserinterferometer mit Betriebsbandbreiten bis 100 kHz für Submikron-Auflösung und schnelle Messungen. Das Tool ist kompatibel mit einer Vielzahl von Zielen, wie Öl- und Luftkonfigurationen, die mit jedem Objektfeldbereich kompatibel sind. Für Testläufe bietet das Asset eine hochintensive Beleuchtung bis zu 0,1 mW/cm2. Für Scannen und Messtechnik bietet das Modell drei verschiedene Scanschemata: 2D-scanning, 3D-scanning und Offset-Scans, mit denen innerhalb eines bestimmten Musters gemessen werden kann. Die Scanmuster werden mit einer hohen grafischen Programmiersprache erzeugt und sind leicht an unterschiedliche physikalische Layouts anpassbar. Darüber hinaus kann das Gerät zur Prüfung von mehrschichtigen Halbleiterproben verwendet werden und ist auch in der Lage, Standardimpulsmessungen an hochdichten Geräten durchzuführen. Die Software des Systems bietet eine umfassende Palette von Bildanalyse, Datenzusammenfassung und Messwerkzeugen, um die Daten aus den Messungen zu analysieren und zu interpretieren. Die Software bietet auch grafische Nachbearbeitungsfunktionen wie Kurvenanpassung für zusätzliche Datenanalysen. Darüber hinaus bietet die Software eine hochrangige Datenkommunikationsschnittstelle für Ein- und Ausgang, die die Integration in bestehende Systeme und Datenbanken erleichtert. Insgesamt ist die HEIDENHAIN ND 281B Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit ein leistungsfähiges Werkzeug zur Messung der lokalen Oberflächeneigenschaften von Halbleiterscheiben. Die überlegenen Scanfunktionen und die grafische Programmiersprache ermöglichen schnelle und genaue Messungen von hochdichten Geräten, während die vereinfachte Software umfassende Bildanalyse- und Datenzusammenfassungsfunktionen bietet und für eine Reihe von Anwendungen geeignet ist.