Gebraucht HITACHI G-S006-02-0012 #9377468 zu verkaufen

HITACHI G-S006-02-0012 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die eine hohe Genauigkeit und überlegene Wiederholbarkeit bietet, um eine maximale Ausbeute bei der Halbleiterherstellung zu gewährleisten. Das System bietet hervorragende Leistung, Zuverlässigkeit und Wirtschaftlichkeit, um den steigenden Anforderungen der Halbleiterindustrie gerecht zu werden. G-S006-02-0012 ist eine vollautomatische Einheit, die Halbleiterscheiben schnell und genau auf Form, Größe und andere physikalische Eigenschaften testen kann. Es ist mit einer Kontaktsondenstation, digitaler optischer Mikroskopie, hochauflösenden analytischen Detektoren und einem fortschrittlichen Embedded Controller ausgestattet, um schnelle und präzise Tests zu ermöglichen. Die Maschine ist auf einem kompakten Rahmen aufgebaut, der wenig Platz beansprucht und Kosten reduziert. Darüber hinaus verfügt HITACHI G-S006-02-0012 über ein breites Spektrum an anwendbaren Materialien, darunter Wafer vom Typ Single-Hemisphäre, SCUBA und SOIC. Die Kontaktsondenstation auf G-S006-02-0012 dient zur Messung der physikalischen Abmessungen von Halbleiterbauelementen. Es verfügt über eine Reihe von Sonden, die manuell in direkten Kontakt mit der Waferoberfläche gebracht werden. Die Sonden sind mit kapazitiven und induktiven Sensoren ausgestattet, um die genaue Form, Größe und andere physikalische Eigenschaften des Wafers zu erfassen. Die Kontaktsonde weist außerdem eine hochpräzise lineare Stufe auf, die eine präzise Bewegung der Sonden über den Wafer ermöglicht. Die digitale optische Mikroskopie von HITACHI G-S006-02-0012 ermöglicht die mikroskopische Inspektion von Waferoberflächenmerkmalen. Das Werkzeug ist mit einem erweiterten zusammengesetzten optischen Asset ausgestattet, um hochauflösende Bilder der Waferoberfläche zu erfassen. Die Bilder können dann mittels Bildverarbeitungstechniken weiter analysiert werden, um kleinere Defekte wie Risse und Mikrokonturen zu erkennen. Das Modell bietet auch eine breite Palette von Betriebsmodi, wie Multi-Layer-Inspektion, Pixel-Level-Zoom und Fundus-Bildgebung. G-S006-02-0012 verwendet auch eine Vielzahl von analytischen Detektoren, um die elektrischen Eigenschaften des Wafers genau zu quantifizieren. Dazu gehören der High-Range Scanning Wide Area Detector (HRSA) und der Sweep Imaging Detector (SWID). Der HRSA wird verwendet, um den Widerstand und die Kapazität der Waferoberfläche zu messen, während der SWID kleine Schwankungen der Spannung erkennen und lokalisieren kann. Beide Detektoren spielen eine wichtige Rolle bei der Sicherstellung der Qualität der hergestellten Halbleiterbauelemente. HITACHI G-S006-02-0012 bietet eine Komplettlösung für Wafertests und Messtechnik. Das integrierte Design, die fortschrittlichen Funktionen und die anspruchsvollen Detektoren bieten eine optimale Leistung zu einem kostengünstigen Preis. Die Ausrüstung ermöglicht es Herstellern, Wafer schnell und präzise auf Form, Größe und andere physikalische Eigenschaften zu testen/zu überprüfen und gleichzeitig eine maximale Ausbeute bei der Halbleiterherstellung zu gewährleisten.