Gebraucht HOMMEL-ETAMIC W10 #293755236 zu verkaufen

HOMMEL-ETAMIC W10
ID: 293755236
Surface profile roughness gauge Type: Skidded pick up Maximum traversing length 17.5 mm, Cut Off 0.25 / 0.8 / 2.5 / mm (40) Surface roughness parameters according to DIN EN ISO 4287, DIN EN ISO 13565, ISO 12085 and JIS B601 MOTIF (7) Measuring programs with individual measurement / evaluation conditions Touch screen: 4.3" (11 cm) color Display of parameters, profiles, material ratio and statistical data Integrated printer with Easy-Paper-Loading function Memory for 2000 readings and 500 profiles for each measuring program USB - interface for PC connection Operation: Cord/cordless Base unit with rest and barrel jack Traverse unit LV17, 17.5 mm tracing length, tripod legs Pick up T1E, 2μm/90°, skid radius 30/1.95 mm Integrated surface roughness standard with data sheet Calibration Certificate for the instrument 2 Rolls of printer paper Probe protection with lighting Support prism for small shafts Charger/AC Adapter: 100 V to 240 V USB Cable Instruction manual.
HOMMEL-ETAMIC W10 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die hochpräzise und genaue Messfähigkeiten für die Bewertung der Qualität und Leistung von Halbleiterscheiben bietet. Dieses System wurde entwickelt, um den hohen Anforderungen der Halbleiterindustrie gerecht zu werden und bietet eine umfassende Lösung für die Waferinspektion, Prüfung und Analyse. Herzstück der W10-Einheit ist eine ausgeklügelte Messtechnik-Plattform, die modernste Technologien verwendet, um Schlüsselparameter von Halbleiterscheiben mit außergewöhnlicher Präzision zu messen. Die Maschine ist mit einer Reihe von Sensoren und Messmodulen ausgestattet, die es Anwendern ermöglichen, verschiedene Aspekte der Waferqualität wie Oberflächenrauhigkeit, Ebenheit, Dicke und Fehlererkennung zu beurteilen. Eines der Hauptmerkmale des HOMMEL-ETAMIC W10-Tools ist die hochauflösende Bildgebung, mit der Benutzer detaillierte Bilder von Waferoberflächen auf mikroskopischer Ebene erfassen können. Dies ermöglicht die Identifizierung und Analyse von Defekten, Kontaminationen oder Unregelmäßigkeiten, die die Leistung der Wafer beeinträchtigen können. Das Asset bietet auch fortschrittliche Bildgebungsalgorithmen und Bildverarbeitungswerkzeuge, um die Bildqualität zu verbessern und wertvolle Daten aus den Bildern zu extrahieren. Zusätzlich zu den bildgebenden Fähigkeiten ist das Modell W10 mit präzisen Messwerkzeugen ausgestattet, die es Anwendern ermöglichen, wichtige Waferparameter wie Oberflächenrauhigkeit und Ebenheit zu quantifizieren. Das Gerät verwendet verschiedene Messtechniken, einschließlich Stiftprofilierung, optische Interferometrie und Laserscanning, um die Topographie von Waferoberflächen genau zu messen und detaillierte Informationen über Oberflächeneigenschaften bereitzustellen. Darüber hinaus bietet das HOMMEL-ETAMIC W10 System automatisierte Mess- und Analyseroutinen, die den Testprozess optimieren und konsistente und zuverlässige Ergebnisse gewährleisten. Das Gerät kann so programmiert werden, dass es wiederholte Messungen an mehreren Wafern durchführt, was eine effiziente Datenerfassung und -analyse ermöglicht. Darüber hinaus verfügt die Maschine über benutzerfreundliche Softwareschnittstellen, die eine intuitive Bedienung und Datenvisualisierung für Anwender aller Kompetenzstufen ermöglichen. Ein weiteres bemerkenswertes Merkmal des W10-Tools ist seine Vielseitigkeit und Skalierbarkeit, so dass Benutzer das Asset an spezifische Testanforderungen anpassen und verschiedene Wafergrößen und -typen berücksichtigen können. Das Modell kann mit zusätzlichen Modulen und Zubehör ausgestattet werden, um seine Messfähigkeiten zu erweitern und spezifische Testanforderungen in der Halbleiterindustrie zu erfüllen. Insgesamt stellt HOMMEL-ETAMIC W10 eine hochmoderne Lösung für Wafertests und Messtechnik dar, die fortschrittliche Technologie, präzise Messfunktionen und benutzerfreundlichen Betrieb bietet. Mit seinen umfassenden Funktionen und anpassbaren Optionen eignet sich das System gut für Halbleiterhersteller, Forschungseinrichtungen und Testlabore, die die Qualität und Zuverlässigkeit ihrer Halbleiterscheiben gewährleisten möchten.
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