Gebraucht HOMMEL / HOMMELWERKE T20 #9164268 zu verkaufen

HOMMEL / HOMMELWERKE T20
ID: 9164268
Surface measurement Tester evaluation instrument: Combined T20-DC tester RP50 Recorder Printer controller LV-150 N 4618 Surface profiler LV-100 6255 Surface profiler Granite base plate with tracks 16 x 25.
HOMMEL/HOMMELWERKE T20 ist ein spezialisiertes Wafer-Prüf- und Messtechnikgerät zur Messung der elektrischen Eigenschaften von Halbleitern. Dieses System ist sowohl zur Inspektion als auch zur elektrischen Leistungsbewertung einer Vielzahl von Halbleitermaterialien in der Lage. Die Hardware- und Softwarekomponenten sind sowohl auf Flexibilität als auch auf Automatisierung ausgelegt und eignen sich perfekt für die Qualitätskontrolle und Parameteroptimierung im Waferproduktionsprozess. Die HOMMEL T20-Einheit nutzt fortschrittliche Stempelprüfverfahren, um verschiedene elektrische Eigenschaften von Halbleitern schnell und zuverlässig zu messen. Diese Eigenschaften umfassen Leckstrom, Transistorparameter, logische Leistung und Kontaktwiderstand. Die Maschine kann auch Signalverzerrungen von Hot Spots und Shorts erkennen. Durch die Überwachung jeder Matrize mit der gleichen Präzision und Genauigkeit kann der Benutzer sicher sein, dass defekte Matrizen leicht identifiziert und von der Produktionslinie entfernt werden, was kostspielige Nacharbeiten und Schrott verhindert. Die Plattform verfügt über eine robuste Reihe von Softwarefunktionen, die den Test- und Messtechnikprozess optimieren sollen. Dazu gehören ein automatisiertes Ausrichtungs- und Sperrwerkzeug für genaue und wiederholbare Ergebnisse sowie anpassbare Testsequenzen und Fehlerbehandlungsalgorithmen. Anwender können Abfragen und Parameter einfach an die spezifischen Anwendungsanforderungen anpassen und Prozessbeispiele in Echtzeit über die grafische Benutzeroberfläche überwachen. Die Anlage HOMMELWERKE T20 verfügt zudem über ein integriertes automatisches Defektinspektionsmodell, mit dem kurze Hosen und offene Schaltungen identifiziert und lokalisiert werden können. Es kann Hohlräume, Verriegelungen und sogar lokale Defekte wie Überbrückungs- und Verpackungsfehler erkennen. Darüber hinaus verfügt es über eine automatisierte Kalibrierungsfunktion, die sicherstellt, dass die Genauigkeit der Wafertests über mehrere Prozessschritte hinweg aufrechterhalten wird. Zusammenfassend ist T20 eine umfassende Wafer-Prüf- und Messtechnik, die die Testzeit verkürzen und den Gesamtertrag verbessern soll. Es bietet automatisierte Ausrichtungs- und Kalibrierungsfunktionen, wiederholbare Testergebnisse und verbesserte Fehlererkennungsfunktionen, um die Qualität und Konsistenz der hergestellten Halbleiterbauelemente sicherzustellen. Dieses System profitiert von jeder Herstellungsanlage für Halbleiterscheiben, verbessert die Erträge und senkt letztlich die Kosten.
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