Gebraucht HOMMEL T2000 #170931 zu verkaufen

ID: 170931
Surface profile roughness gage Includes: Hommel Tester T 2000 Control Unit Hommel LV-100 Profilometer Head Hommel PM2 with tip as shown Hommel PMR 250 Chart Recorder Printer MSC-2 Remote Control Unit (3) Additional Tips: TKE-100-2 TKL-300 TKL-100-2 (2) Probe Tip Adapters (1) Probe Extension Adapter (3) Calibration Surfaces (2) Start/Stop Keys (1) Vibraplane Pneumatic Vibration Isolation Table (1) Rock of Ages Granite Base Connection cables Several Manuals including Operation and Theory of Operation Dust covers.
HOMMEL T2000 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Geräte sind für die effiziente und leistungsstarke Handhabung von Halbleiterscheiben bis 150 mm Durchmesser ausgelegt. Dieses System liefert genaue Ergebnisse für die Auswertung elektrischer, physikalischer und optischer Eigenschaften von Halbleiterscheiben. Das Gerät ist mit branchenführenden Technologien wie Neutronenreflektometrie, fokussiertem Ionenstrahl (FIB), Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und optischer Mikroskopbildgebung ausgestattet. T2000 verfügt über eine automatisierte Prüfkammer mit integrierter mechanischer Wafer-Handhabungsmaschine, Präzisionsmesstechnikkopf und mehreren Messkammern. Es ist für eine seitliche Auflösung von bis zu 3,2 μ m und eine Tiefenauflösung von bis zu 1 μ m ausgelegt. Das Werkzeug bietet auch einen hohen Durchsatz, mit einem Messzyklus von nur 0,4 s. Das bedeutet, dass Hunderte von Wafern in kurzer Zeit bearbeitet werden können. Mit fortschrittlichen thermischen Fähigkeiten ist es in der Lage, Temperaturzyklen von bis zu 200 ° C durchzuführen. Präzision ist bei der Halbleiterherstellung unerlässlich, und HOMMEL T2000 bietet genaue, tiefgehende messtechnische Messungen von Merkmalen bis zu 500 nm Größe, auch am Rand von Wafern. Das Asset bietet auch eine Reihe von Software-Tools, einschließlich AutoAlign Pro, SPM-Analyse-Algorithmen und Bildverarbeitungssoftware. Alle diese Funktionen ermöglichen es T2000, mehrere Tests durchzuführen, einschließlich CD, Dicken- und Rauheitsmessungen, 3D-Formcharakterisierung, Messungen kritischer Bemaßungen (CD), Oberflächentopologie und Fehleranalyse. HOMMEL T2000 bietet auch berührungslose Messungen zur Messung und Analyse von Bildkontrast, Farbe und Helligkeit. Dieses hocheffiziente Modell eignet sich für verschiedene Arten von Waferproben, von mechanisch bis optisch und von mikroelektronisch bis optisch. Zusätzliche Funktionen wie ein eingebauter, motorisierter Werkzeugwechsler, Autofokussierung und automatisches Be-/Entladen von Proben für die Handhabung großer Losen von Wafern verbessern die Qualität und Geschwindigkeit der Test- und Messtechnik-Ergebnisse. Insgesamt ist T2000 ein hervorragendes System zur Durchführung von Wafertests und Messtechnik. Mit seinen messbaren Eigenschaften und hochauflösenden Fähigkeiten ist es in der Lage, Qualitäts- und Präzisionsmessungen mit hohem Durchsatz bereitzustellen. Diese Einheit ist ideal für die Prüf- und Messtechnik-Anforderungen der Halbleiterindustrie.
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