Gebraucht HONEYWELL 51403422-150 HDW #160240 zu verkaufen

ID: 160240
Communication controller.
HONEYWELL 51403422-150 HDW ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik, die speziell für Anwendungen mit Silizium, Saphir und keramischen Substraten entwickelt wurde. Es verfügt über ein modernes optisches Bildgebungssystem, das neben einer Vielzahl anderer Überprüfungsfunktionen auch hochauflösende, hochgenaue Wafertests und Mapping bietet. Das bildgebende Subsystem verwendet vier Kameras mit CCD-Sensoren und ein hochauflösendes Mikroskopobjektiv, das vergrößerte Bilder von bis zu 1.000x erzeugen kann. Das Gerät umfasst auch eine automatisierte optische Inspektion von bis zu 80 Bildern pro Sekunde sowie eine automatische Fehlererkennung, Analyse und Berichterstattung. 51403422-150 HDW bietet vollständige CAD-Unterstützung (Computer Aided Design) mit einem integrierten Werkzeugsatz, mit dem Benutzer Designs in Echtzeit entwickeln, debuggen und ändern können. Es umfasst auch erweiterte Datenerfassungsfunktionen, um ein schnelles, genaues Scannen und die Datenerfassung von bis zu 350 Wafern pro Stunde zu ermöglichen. Die Maschine verfügt über vollständig integrierte SPC-Fähigkeiten, um die Korrelation von Prozessergebnissen mit Qualitätskontrollparametern sowie umfassende statistische Analysetools zu ermöglichen. Das Tool kann um zusätzliche CCD-Kameras für höhere Genauigkeit und quantitativere Messungen erweitert werden. HONEYWELL 51403422-150 HDW ist gut geeignet für eine Vielzahl von Wafertest- und messtechnischen Anwendungen, einschließlich Masken- und Retikelinspektion, optische Prüfung auf Waferebene, Wafer-Mapping und Fehleranalyse. Darüber hinaus ermöglicht das leistungsstarke CCD-Bildverarbeitungsmodul eine genauere und schnellere Datenerfassung und Messung der Geräteeigenschaften. Darüber hinaus verfügt die Anlage über eine Vielzahl automatisierter Messtechnik wie elektrische und mechanische Analyse, 3D-Analyse, optische Profilometrie und Streuung. Insgesamt ist 51403422-150 HDW ein leistungsstarkes und vielseitiges Wafer-Prüf- und Messtechnikmodell, das sich ideal für eine Vielzahl von Forschungs-, Entwicklungs- und Produktionsanwendungen eignet. Mit seiner leistungsstarken CCD-Bildgebungstechnologie und seinen automatisierten Messtechnik-Funktionen bietet es eine schnelle, genaue Datenerfassung und -analyse, die eine verbesserte Fehlererkennung, Prozesskontrolle und Qualitätsmanagement ermöglicht.
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