Gebraucht IMS / NANOTECH LVIS-V #9314422 zu verkaufen

IMS/NANOTECH LVIS-V Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine voll ausgestattete Test- und Messtechnik-Plattform, die für die Herstellung fortschrittlicher Halbleiterbauelemente entwickelt wurde. Dieses integrierte System bietet einen umfassenden Satz von messtechnischen Tools, einschließlich eines Testkopfes, einer Ansichtskamera, einer Sichteinheit, analytischen Techniken und Datenerfassungsfunktionen, die alle in einer vollständig integrierten Plattform enthalten sind. Der Prüfkopf besteht aus einer automatisierten Antriebsstufe und einem Stempelbehandler. Die Stufe bietet Platz für bis zu 200mm Wafer und eignet sich somit für die Prüfung großer Substrate. Das Düsenbehandlungsmittel dient zum Beschichten oder Strukturieren der Schräge der Matrize, zum Entfernen von Körnern oder zum Färben von Wafern sowie zum partiellen Einkapseln. Die Ansichtskamera wurde entwickelt, um die strukturellen und topographischen Informationen der Matrize mit einem integrierten Mikroskop zu erfassen. Die Vision-Maschine verwendet Laserscanning und ein Mehrzonen-Messtechnik-Tool, um einen 3D-Scan der Oberfläche des Wafers zu erstellen. Diese Daten werden verwendet, um die Dicke, Oberflächenrauhigkeit, Oberfläche und andere Parameter des Wafers zu messen. Die Anlage umfasst auch eine Vielzahl von Analysetools, einschließlich elektrischer Tests, optischer Tests und Mustererkennung zur weiteren Charakterisierung des Geräts. Die Datenerfassungsfunktionen des Modells ermöglichen die Speicherung, den Abruf und die Analyse der Testergebnisse. Alle erfassten Daten können zur einfachen Auswertung und Berichterstattung auf einem sicheren Remote-Server gespeichert werden. Darüber hinaus sind mehrere Analysewerkzeuge für die automatisierte Auswertung ausgelegt, wodurch der manuelle Eingriff reduziert wird. IMS LVIS-V Wafer Testing and Metrology System ist für umfassende Wafer-Tests und Messtechnik konzipiert und bietet Forschern eine leistungsfähige und zuverlässige Plattform für Forschungs- und Produktionsaufgaben. Es ermöglicht eine verbesserte Geräteanalyse und ist besonders nützlich, um die Entwicklung und Herstellung fortgeschrittener Halbleiterbauelemente zu erleichtern.