Gebraucht INSPECTROLOGY IVS-165 #293648851 zu verkaufen

INSPECTROLOGY IVS-165 ist ein modulares, leistungsstarkes Wafer-Prüf- und Messtechnik-Equipment, das die Möglichkeit bietet, potenzielle Defekte an jedem einzelnen Wafer zu identifizieren. Das umfassende Feature-Set ermöglicht die Prüfung auf verschiedenen Materialien und Substraten - von Silizium bis GaAs, InP und darüber hinaus. Das System ermöglicht die Erfassung und detaillierte Analyse jeglicher Messtechnik oder Defekte auf jedem Wafer. Es ermöglicht eine breite Palette von Bildüberprüfung, einschließlich 2D- und 3D-Bildgebung, unbehinderte Farbbildgebung, Lumen und optische Dichte, Bias, Spotgröße, Konturierung und automatische Segmentierung Referenzierung und Auto-Ausrichtung. Darüber hinaus bietet das Gerät eine fortschrittliche Fehlerleistungsanalyse von Fuzzy-Fehleruntersuchungen über automatische Waferorientierung und Klassifizierung, umfassende Fehlerdatenextraktion und -prüfung bis hin zum Vergleich mehrerer Wafer. Die von der Maschine erfassten detaillierten Informationen wie Koordinatenstellen und Fehler in den Defekten können dann zur Verbesserung der Prozessstabilität und zur Erhöhung der Gesamtausbeute verwendet werden. IVS-165 verfügt auch über leistungsstarke Stift- und SEM-Inspektionsmöglichkeiten wie hochauflösende Partikelanalyse und 3D-Oberflächenprofilierung sowie das automatische Nähen von Bildern mit minimaler Benutzerinterferenz. Darüber hinaus charakterisiert die Hochgeschwindigkeits-Messtechnik schnell Wafer über mehrere Düsenabschnitte hinweg und ermöglicht die Optimierung automatisierter Mikroprobing-Testergebnisse. Schließlich beinhaltet INSPECTROLOGY IVS-165 extrem zuverlässige und genaue Platzierung, Hochgeschwindigkeits-Bewegungssteuerung sowie Datenerfassung und -kommunikation, um sicherzustellen, dass Hochleistungs-Testprotokolle mit minimaler Verzerrung korrekt eingehalten werden. Die außergewöhnliche Genauigkeit des Werkzeugs in Kombination mit seiner hohen Verfügbarkeit sorgt für schnellere und genaue Ergebnisse.