Gebraucht IONIC SYSTEMS Stressgauge II #9157321 zu verkaufen

IONIC SYSTEMS Stressgauge II
ID: 9157321
Wafergröße: 6"
Wafer stress measurement system, 6".
IONIC SYSTEMS Stressgauge II ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die speziell für die Präzisionsmessung von Belastungen an spröden und duktilen Materialien entwickelt wurde. Es verwendet eine einzigartige und patentierte Dehnungsmessstreifen-Technologie, die es dem Anwender ermöglicht, die Belastung in mehreren Punkten auf einem Proben-Wafer bis zu einem maximalen Durchmesser von 200 mm genau und zuverlässig zu messen. Das System von Stressgauge II ist auf einer vertikalen Plattform aufgebaut, um die Genauigkeit der Messwerte auf einem Probenwafer zu maximieren. Darüber hinaus enthält es eine halbautomatische Stufe zur einstellbaren Positionierung, die die Einstellung der Probenscheibe einfach macht. IONIC SYSTEMS Stressgauge II besteht aus mehreren Komponenten, die für die Genauigkeit der Messungen wesentlich sind. Insbesondere umfasst Stressgauge II einen zweiachsigen hochauflösenden Encoder, Dehnungsmessstreifen mit Omnetics-Steckverbindern und ein I/O-Panel, das das Gerät mit dem Testgelände verbindet. Der Encoder ist auf der vertikalen Plattform montiert und ermöglicht es der Maschine, die Position der Probe relativ zu den Dehnungsmessstreifen, die auf der hinteren Halterung montiert sind, zu überwachen. Die Dehnungsmessstreifen liefern Messwerte von Dehnung, Spannung und Kompression mit Genauigkeit in der Größenordnung von 10 με RMS. Das I/O-Panel verbindet sich mit den Dehnungsmessstreifen und übermittelt die Messwerte zurück an die Teststelle. Die auf einem Probenwafer entnommenen Messwerte werden dann in der Software IONIC SYSTEMS Stressgauge II entnommen und ausgewertet. Die Software enthält Algorithmen, die die Messwerte analysieren, so dass der Benutzer Dehnungsverteilungen auf dem Bildschirm sowohl für einzelne Punkte als auch über Bereiche auf dem Probenwafer anzeigen kann. Genaue Dehnungsverteilungen werden dann im internen Speicher des Tools gespeichert, bis sie auf einen Computer exportiert oder online zur Auswertung vorgelegt werden. Neben Dehnungsmessungen ist Stressgauge II auch in der Lage, die Temperatur auf einem Probenwafer mit einer Genauigkeit von 0,1 ° C zu messen. Die Temperaturmessungen werden mit einem separaten Sensor durchgeführt, der zusammen mit den Dehnungsmessstreifen am hinteren Träger montiert ist. In diesem Sinne bietet IONIC SYSTEMS Stressgauge II eine zuverlässige Möglichkeit, Daten über Dehnung und Temperatur auf einem Probenwafer in einer einzigen Plattform zu sammeln. Insgesamt ist Stressgauge II eine leistungsstarke messtechnische Komponente zur Präzisionsmessung der Belastung spröder und duktiler Materialien. Die einzigartige DMS-Technologie und die halbautomatische Stufe für die einstellbare Positionierung machen präzise Messungen von Dehnung und Temperatur auf einer Probenscheibe schnell und einfach. Die Messwerte auf einem Probenwafer werden in der Software des Modells genau und zuverlässig analysiert, um Dehnungsverteilungen für eine Vielzahl von Anwendungen bereitzustellen.
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