Gebraucht ISIS SENTRONICS 2020L NT4 #9357606 zu verkaufen

ID: 9357606
System.
ISIS SENTRONICS 2020L NT4 ist eine automatisierte Hochleistungsoblatenprüfung und für die Herstellung von Hochtechnologienmikroelektronik-Bestandteilen entworfene Metrologieausrüstung. Das System bietet fortschrittliche Genauigkeit und Geschwindigkeit mit einer modularen und skalierbaren Architektur, die eine Vielzahl verschiedener Wafergrößen und -formen, einschließlich rund, quadratisch und rechteckig, aufnehmen kann. Die Einheit kann eine Vielzahl von Merkmalen eines Wafers testen und messen, einschließlich Düsengröße, Ausbeute und Ausbeute und Dicke. 2020L NT4 ist mit mehreren Kameras ausgestattet, darunter sichtbare, infrarote und Röntgenbilder. Die Kameras können hochauflösende Bilder für Waferinspektion, Fehlererkennung, Paketerkennung und IC-Überbrückung sowie Lokalisierungs- und Messtechnik-Fähigkeiten für die Messung von Mikrostrukturmerkmalen bereitstellen. Die Maschine ist auch mit 3D-Objekterkennung kompatibel und kann feine Merkmalsdetails wie Drahtsteigung, Bondgröße und Schaltungsdichte messen. Das 2020NT4 setzt In-situ-Prüftechnik ein, die die Auswertung von Funktionsparametern einzelner Strukturen während der Messung ermöglicht, indem Testsonden an Strukturen angeschlossen werden, die eine elektrische Spannungs- oder Stromanalyse ermöglichen. Es enthält auch ein gekühltes Spannfutter für die thermische Prüfung sowie ein Druckfutter für eine berührungslose klimatisierte Umgebung. Das Werkzeug ist mit einer breiten Auswahl an Waferträgern einschließlich Kassetten und FOUP kompatibel und kann mit einem Roboter zum Entladen und Beladen von Chips ausgestattet werden. Es wird von einer hochmodernen Software angetrieben, die benutzerdefinierte programmierbare Tests und Setup für verschiedene Wafergrößen und -typen bietet. ISIS SENTRONICS 2020L NT4 bietet eine Vielzahl von Mess-, Geschwindigkeits- und Genauigkeitsvorteilen für automatisierte Wafertests und Messtechnik. Es wurde speziell entwickelt, um die Bedürfnisse der hochtechnologischen Mikroelektronikindustrie zu erfüllen und zuverlässige Daten und Wiederholbarkeit für mehrere Testanwendungen bereitzustellen.
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