Gebraucht ISIS SENTRONICS SemDex 300 #9269325 zu verkaufen

ISIS SENTRONICS SemDex 300 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die eine effiziente und genaue Wafer-Fehleranalyse, Messung und Sortierung bietet. Es verwendet Transmissionselektronenmikroskop (TEM) -Technologie, um hochauflösende Bildgebung und 3D-Topographie-Mapping zu ermöglichen. Bei gemeinsamer Verwendung ermöglichen diese Merkmale die Fehlererkennung, die Fehlererkennung der Waferherstellung, die zerstörungsfreie Messtechnik und die Rückseitenanalyse über eine breite Palette kapazitiver und widerstandsfähiger Proben hinweg. Das System verwendet ein Dual-Wellenlängen-Interferometer für die Optik, um eine überlegene Genauigkeit bei der Messung von Strukturen bis auf ein Nanometer-Niveau zu erreichen. Die fortschrittliche Genauigkeit gewährleistet eine hohe Präzision für alle Wafer-Fertigungsaufgaben. Darüber hinaus nutzt das Gerät eine einzigartige universelle Referenztechnologie, um sicherzustellen, dass Informationen genau gesammelt und zwischen der Messtechnik-Maschine und anderen Geräten (z.B. C-CAD-Software, Machine Vision) geteilt werden. SemDex 300 verwendet auch ein proprietäres Scanwerkzeug mit hoher Toleranz. Dieses Hochgeschwindigkeits-Scan-Asset ist in der Lage, Megapixel-Bilder in nur wenigen Minuten genau zu erzeugen. Auf diese Weise können Fehler und Prozessvariationen auf effiziente Weise genau erkannt werden. Darüber hinaus verfügt das Modell über mehrere Standard- und benutzerdefinierte Inspektionsmodi, einschließlich Hellfeld, Dunkelfeld, automatisierte Indizierung und manuelle Inspektion. Die mehrfachen Inspektionsmodi bieten einen robusten Ansatz bei der Analyse verschiedener Arten von Wafer-bezogenen Defekten. Schließlich bietet ISIS SENTRONICS SemDex 300 auch die Integration mit anderen Softwaretools und Hardwarelösungen. Auf diese Weise können Anwender die leistungsstarken Verarbeitungsfunktionen der Software für eine Reihe anderer Aufgaben nutzen. Der SENTRONICS SemDex 300 ist eine leistungsstarke und vielseitige Lösung für Wafer-Tests und Messtechnik, da er auf der Plattform kundenspezifische Softwareanwendungen sowie Funktionen wie automatisierte Datenerfassung und -analyse erstellen kann.