Gebraucht ISIS SENTRONICS SemDex 301-2 #9228734 zu verkaufen

ISIS SENTRONICS SemDex 301-2 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die speziell entwickelt wurde, um eine umfassende Charakterisierung verschiedener Arten von Halbleiterstrukturen zu ermöglichen. Das System besteht aus zwei primären Komponenten, nämlich einem hochauflösenden optischen Mikroskop, das Strukturen bis in den Nanometermaßstab abbilden kann, und einer Mustererkennungseinheit, die zur genauen Lokalisierung und Messung der verschiedenen Merkmale innerhalb der Struktur dient. Darüber hinaus verfügt die Maschine über eine Reihe optionaler Zubehörteile wie ein Lasermikroskop, ein konfokales Mikroskop, ein Raman-Spektrometer und einen Scanner, der Anwendern eine große Flexibilität hinsichtlich ihrer Fähigkeit zur detaillierten Strukturanalyse bietet. Herzstück von SemDex 301-2 ist das hochauflösende optische Mikroskop, das Strukturen bis in den Nanometermaßstab abbilden kann. Das Mikroskop ist mit einer Vielzahl von Objektivlinsen ausgestattet, so dass Benutzer effektiv eine Vielzahl von Materialien wie Silizium, Metall und dielektrische Schichten abbilden können. Bilder sind mit fortschrittlicher Auto-Fokus-Technologie perfekt fokussiert und gewährleisten konsistente Ergebnisse. Darüber hinaus ermöglicht die einzigartige optische Konfiguration des Mikroskops eine Bildgebung mit hohem dynamischen Bereich, was zu äußerst detaillierten Ergebnissen und einer erheblichen Verbesserung der Messgenauigkeit auf allen Skalen führt. Als nächstes ist ISIS SENTRONICS SemDex 301-2 mit einem hochentwickelten Mustererkennungswerkzeug ausgestattet, das die Genauigkeit der Merkmalserkennung und -messung insbesondere für Strukturen hoher Dichte erheblich verbessert. Diese Anlage ist in der Lage, selbst die komplexesten Funktionsmuster wie TSV, Flip-Chips und dielektrische Schichten zu lokalisieren und zu messen. Die aus diesem Modell gewonnenen Messdaten sind äußerst genau und zuverlässig, da sie ausschließlich auf direkten Messungen und nicht auf Annahmen beruhen. Schließlich kommt SemDex 301-2 neben seinem bereits beeindruckenden Leistungsspektrum mit einer Reihe optionaler Zubehörteile, die eine noch größere Strukturanalyse ermöglichen. Ein Lasermikroskop steht für die Echtzeit-Abbildung elektrischer Eigenschaften zur Verfügung, während ein konfokales Mikroskop und ein Scanner zur Durchführung zerstörungsfreier chemischer und physikalischer Messungen verwendet werden können. Zusätzlich steht ein Raman-Spektrometer zur Verfügung, das eine genaue Analyse der chemischen Zusammensetzung ermöglicht. Abschließend ist ISIS SENTRONICS SemDex 301-2 eine leistungsstarke und vielseitige Wafer-Prüf- und Messtechnik, die eine umfassende hochauflösende Bildgebung und Merkmalserkennung bietet. Das System ist ideal für viele verschiedene Arten von Anwendungen, so dass seine Anwender zuverlässig genaue, zuverlässige und detaillierte Wafer-Tests und -Analysen durchführen können.