Gebraucht JMAR Mirage S2610-01-01-N #112118 zu verkaufen

JMAR Mirage S2610-01-01-N ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um zuverlässige Messungen von Halbleiterbauelementparametern wie Spannung, Kapazität und Widerstand bereitzustellen. Dieses System wird von einem Hochleistungs-Präzisions-Luftlagerrotor angetrieben, der es ermöglicht, die Waferdicke und das Profil genau zu messen. Das Gerät verfügt auch über ein Wafer-Deformationsanalysemodul, das Bandhöhen und Formvorgänge auf der Oberfläche des Wafers anzeigen kann. Das S2610-01-01-N ist mit einer erweiterten Steuerungsmaschine und einer Softwareschnittstelle ausgestattet, mit der Benutzer die Scangeschwindigkeit, die Sensorreaktionszeit und -auflösung sowie andere Einstellungen steuern können. Das Tool ist mit fortschrittlicher Bildgebungstechnologie wie LED-Beleuchtung für verbesserte Waferinspektion und Bildreflektivität und Rauschunterdrückung integriert. Die bildgebende Technologie soll eine verbesserte Datenerfassung und -analyse für eine breite Palette von Wafern ermöglichen. Das S2610-01-01-N verfügt auch über eine eingebaute Feuchtigkeits- und Temperaturkompensationsanlage, die genaue Messungen an nassen und trockenen Wafern ermöglicht. Die umfassenden Softwarefunktionen des Modells, kombiniert mit seinen Datenspeicher- und Analysefunktionen, machen es ideal für Produktionstests. Die von den Geräten gesammelten und analysierten Daten können in mehreren Dateiformaten gespeichert, segmentiert und exportiert werden. Darüber hinaus bietet das System Echtzeit, fehlerfreie Datenausgabe und Leistungsanalyse, um die Qualität von Wafern schnell zu bewerten. Darüber hinaus umfasst die Einheit Signalverarbeitungsmerkmale wie Signalmittelung, Filterung, Ebenheitsabbildung, Signalformänderung und Signalformoptimierung. Auf diese Weise können Benutzer Spannung, Kapazität und Widerstand jedes Halbleiterbauelements genau messen. Mirage S2610-01-01-N ist eine kostengünstige, anspruchsvolle Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die zuverlässige Messungen der Waferdicke und Halbleiterbauelementparameter ermöglicht. Die fortschrittliche Bildverarbeitungstechnologie und die Signalverarbeitungsfunktionen des Tools machen es zu einer idealen Wahl für Produktionstests.