Gebraucht JORDAN VALLEY JVX 7300 #293744810 zu verkaufen

ID: 293744810
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2012
Film thickness measurement system, 12" CIM: E84, SECS/GEM, GEM300 Handler system Ionizer kit Chamber laminar flow Internal light kit Optics non-functional 2012 vintage.
JORDAN VALLEY JVX 7300 ist eine leistungsstarke, hochauflösende Wafer-Prüf- und Messtechnik. Dieses System wurde mit dem Fokus auf maximale Effizienz und Präzision konzipiert und ermöglicht eine hohe Zuverlässigkeitsprüfung und Messtechnik einer Vielzahl von Wafertypen. Das Gerät verfügt über ein hochauflösendes, zerstörungsfreies Inspektionsmodul, das hilft, Fehler in Halbleiterscheiben genau zu messen und zu identifizieren. Es bietet bis zu 8 µm Auflösung für die genaue Erfassung von Oberflächenmerkmalen und Defekten, so dass es ideal für die Sicherstellung der Produktqualität. Die Maschine verwendet auch eine Vielzahl von fortschrittlichen optischen Techniken wie Hellfeld, Dunkelfeld, Schrägwinkel-Bildgebung, Fourier-Transformation und Luminanz-Photogrammetrie für die genaue Messung und Charakterisierung der Waferoberfläche. Darüber hinaus ist das Werkzeug mit einem mehrkanaligen hochauflösenden Messtechnikmodul ausgestattet, das Waferdicke, Oberflächenprofil und andere kritische Parameter mit einer Genauigkeit von bis zu 0,1 µm messen kann. Dieses Modul verwendet fortschrittliche optische Techniken wie Interferometrie, ADSIM-Messtechnik und Weißlicht-Interferometrie. Dies ermöglicht maximale Genauigkeit und Präzision und bietet gleichzeitig die Flexibilität, mit einer Vielzahl von Wafermaterialien und -größen zu arbeiten. Das Asset ist auch mit automatisierten Wafer-Handhabungs- und Datenerfassungsfunktionen konzipiert, die schnellere und genauere Tests ermöglichen. Es umfasst ausgefeilte Datenmanagement- und Analysefunktionen, mit denen Wafer schnell und einfach verglichen und überprüft werden können. Insgesamt ist JVX 7300 eine ausgezeichnete Wahl für hochauflösende Wafertests und Messtechnik. Es bietet eine hohe Effizienz und Präzision, die eine schnelle und genaue Prüfung einer Vielzahl von Wafermaterialtypen ermöglicht. Seine automatisierten Datenerfassungs- und Analysefunktionen machen es ideal für Produktionstests und gewährleisten höchste Qualitätssicherung.
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