Gebraucht JORDAN VALLEY JVX 7300 #9383216 zu verkaufen

JORDAN VALLEY JVX 7300 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik für Forschung und industrielle Anwendungen. Es bietet eine hohe Genauigkeit und Stabilität und bietet eine breite Palette von Optionen für die Prüfung und Analyse von Halbleiterscheiben. Das System besteht aus einer Basiseinheit, die sowohl Scan- als auch Testfunktionen bietet, sowie einem optischen Mikroskop für hochauflösende Bildgebung. Die Abtastung erfolgt durch ein Paar hochpräziser Flyscan-Stufen, die eine schnelle und genaue Abtastung der gesamten Waferoberfläche ermöglichen. Das Gerät verfügt zudem über eine motorisierte XY-Stufe, die eine schnelle und genaue Ausrichtung des Abtastkopfes auf den Wafer ermöglicht. Neben Scan- und Testfunktionen verfügt JVX 7300 auch über eine Reihe von messtechnischen Werkzeugen und Attributen. Dazu gehört eine hochauflösende CCD-Kamera, die die physikalischen Eigenschaften von Wafern erfassen und analysieren kann. Es enthält auch eine Lichtquelle, die einen Wellenlängenbereich verwendet, um die vorhandene Topographie der Waferoberfläche abzubilden, und ein Softwarepaket, das verwendet werden kann, um eine breite Palette von Statistiken und Parametern zu messen, zu analysieren und zu vergleichen. Die Hardwarekomponenten der Maschine werden durch eine hochentwickelte Software-Suite ergänzt, die eine Reihe von Tools und Funktionen bietet, um die Fähigkeiten der Ausrüstung weiter zu verbessern. Dazu gehören automatische Datenlogger, mit denen Benutzer die Einstellungen ihres Tools speichern, überwachen und anpassen sowie detaillierte Berichte über die Ergebnisse liefern können. Die Suite umfasst auch die Möglichkeit, generierte Bilder anzuzeigen und zu vergleichen, und bietet Technikern eine weitere Analyseschicht. Schließlich bietet JORDAN VALLEY JVX 7300 auch eine breite Palette von Anschlussmöglichkeiten, einschließlich USB und Ethernet-Ports. Dies ermöglicht den Remote-Zugriff auf das Asset, was die gemeinsame Nutzung von Daten und die Schaffung kollaborativer Netzwerke ermöglicht. Insgesamt bietet JVX 7300 ein genaues und vielseitiges Wafer-Test- und Metrologiemodell. Mit einem umfassenden Angebot an Hardware- und Softwarekomponenten bietet dieses Gerät Anwendern eine umfassende und effiziente Plattform für die Analyse und den Vergleich verschiedener Wafertypen.