Gebraucht KEM / KOKUSAI VR-120S #9099745 zu verkaufen

ID: 9099745
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2006
Resistivity measurement system, 12" 2006 vintage.
KEM/KOKUSAI VR-120S ist eine neueste Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um die Leistung der Gerätecharakterisierung, des Tests und der Analyse zu maximieren. Es ermöglicht präzise Messungen der elektrischen, optischen und mechanischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen. KEM VR-120S verfügt über einzigartige Technologien wie berührungslose Laserprofilometrie, Colruyt Displacement Sensor und Atomic Force Mechanical Microscope, die ein tieferes und genaueres Verständnis der Struktur eines Geräts sowie dessen Design und Betriebstreiber ermöglichen. Das System besteht aus verschiedenen Komponenten, die zusammenarbeiten, um Wafer-Tests und Messtechnik zu ermöglichen, die eine komplizierte Analyse der physikalischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen ermöglichen. KOKUSAI VR-120S besteht aus einer optischen Materialcharakterisierungseinheit, einem berührungslosen Laserprofilometer, einem Kolruyt-Wegsensor und einer flexiblen Ausrichtmaschine. Diese Kombination bietet ein hohes Maß an Flexibilität und Genauigkeit zur Gewinnung von Daten über Struktur und Eigenschaften von Halbleiterbauelementen. Daher kann dieses Werkzeug statische, dynamische und elektrische Eigenschaften von Halbleitern mit hoher Auflösung messen. Die optische Materialcharakterisierung ermöglicht es Forschern, die Eigenschaften optischer Materialien mit großer Genauigkeit zu messen. Es ist in der Lage, einen optischen Strahl auf der Probe zu positionieren und zu fokussieren und die zugehörigen Signale zu nutzen, um Informationen über die Struktur und Eigenschaften der Vorrichtung zu erhalten. Darüber hinaus ermöglicht das berührungslose Laserprofilometer die Erfassung und Analyse von zweidimensionalen topographischen und Oberflächenprofildaten zu Gerätekomponenten. Das flexible Ausrichtungsmodell ermöglicht eine präzise und wiederholbare Positionierung und Handhabung von Wafern, um die Effizienz und Genauigkeit der Datenerfassung zu erhöhen. Es enthält auch einen Kolruyt-Wegsensor, der eine schnelle Messung des Oberflächenprofils mit nur einer begrenzten Anzahl von Probenpunkten ermöglicht. Sie ermöglicht es Forschern, in kurzer Zeit Ungleichmäßigkeiten und Defekte der Oberfläche zu erkennen. VR-120S ist definitiv ein ideales Werkzeug zur Charakterisierung elektronischer Bauteile und zur Durchführung präziser Wafertests und Messtechniken. Die Kombination aus leistungsfähigen und präzisen Technologien ermöglicht genaue Messungen elektrischer, optischer und mechanischer Eigenschaften und liefert detaillierte Daten für weitere Untersuchungen. Dieses Gerät ist ein großartiges Produkt für seine Fähigkeit, Gerätestruktur und Betriebsleistung zu bewerten und zu optimieren.
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