Gebraucht KEYENCE LA-2010 #9253571 zu verkaufen

KEYENCE LA-2010 ist ein modernes Wafer-Prüf- und Messtechnik-Gerät für den Einsatz in Halbleiterherstellungsprozessen. Es nutzt fortschrittliche Technologie, um die mikroskopischen Eigenschaften einer Vielzahl von Wafern wie Silizium, Galliumarsenid und anderen Halbleitern zu analysieren. Das System verfügt über eine breite Palette von Messungen und Analysefähigkeiten, die nanoskalige Messungen, 3D-Bildgebung, Fehleranalyse und Oberflächenrauhigkeitstests umfassen. LA-2010 ist mit zwei integrierten optischen Systemen ausgestattet, eines mit einem SEM (Rasterelektronenmikroskop) und das andere mit einem interferometrischen Mikroskop, das es ermöglicht, Wafer auf vielfältige Weise abzubilden und zu analysieren. Dazu gehört die Verwendung von SEM-Bildgebung, bei der ein fokussierter Elektronenstrahl die Oberfläche des Wafers abtastet und Bilder mit einer Auflösung von bis zu 15 Nanometern erzeugt. Mit dem interferometrischen Mikroskop kann KEYENCE LA-2010 die Oberflächentopographie des Wafers mit einer Genauigkeit im Nanometerbereich messen. Die dreidimensionalen bildgebenden Funktionen des Geräts ermöglichen es, Fehler am Wafer genau zu identifizieren. LA-2010 verfügt auch über eine breite Palette von Analysefähigkeiten, wie Fehler- und Oberflächenrauhigkeitsanalyse, sowie Bildsegmentierung zur Erkennung von Schichtfehlern. Mit seiner Mustererkennungstechnologie kann die Maschine Muster auf der Oberfläche des Wafers genau identifizieren. Dies ist besonders vorteilhaft bei der Auswertung nanoskaliger Schichten und Strukturen. Darüber hinaus können KEYENCE LA-2010 Widerstands- und dielektrische Eigenschaften von Wafern messen sowie hochpräzise digitale Höhenkarten der Oberfläche erzeugen. LA-2010 ist ein zuverlässiges und leistungsstarkes Werkzeug, das Halbleiterherstellern helfen kann, die höchste Qualität ihrer Wafer sicherzustellen. Das umfassende Spektrum an Funktionen und Analysefunktionen ermöglicht die genaueste Inspektion und Prüfung von Halbleiterscheiben. Mit KEYENCE LA-2010 können Hersteller Fehler schnell und effektiv erkennen, Wafereigenschaften analysieren und sicherstellen, dass ihre Wafer Qualitätsstandards und Kundenanforderungen erfüllen.