Gebraucht KEYENCE LK-G87 #9011593 zu verkaufen

KEYENCE LK-G87 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die in der Lage ist, Wafer automatisch auf Defekte zu überprüfen, Parameter zu messen und Geräteeigenschaften zu identifizieren und auszuwerten - so können Benutzer die Qualität des Wafers schnell und genau überwachen und bewerten. Dieses System integriert fortschrittliche Technologien, wie berührungsloses optisches und Laserscannen für Messgenauigkeit und Wiederholbarkeit, und bedeutet, dass es in der Lage ist, eine Vielzahl von Prozessen im Halbleiterherstellungsprozess schnell und automatisch zu überwachen, was eine verbesserte Effizienz und höhere Produktausbeute ermöglicht. Das Gerät verfügt über eine hohe Geschwindigkeit Scangeschwindigkeit und robuste Plattform, so dass es ideal für Tests und Analyse von anspruchsvollen Produktionsumgebungen. Es hat auch die Fähigkeit, High-End-Geräte mit hoher Geschwindigkeit aufgrund seiner fortschrittlichen optischen Zoommaschine und Multi-Winkel-Scan-Funktionen genau zu messen. Dies erhöht die Analysegenauigkeit und die Durchsatzgeschwindigkeit. Darüber hinaus verfügt LK-G87 über ein automatisiertes Handhabungswerkzeug zur schnellen, sicheren und effizienten Handhabung der Wafer. Dies reduziert den Zeitaufwand für die Verarbeitung und liefert schnelle und zuverlässige Ergebnisse. Das Wafer-Test- und Metrologiemodell kann auch physikalische Parameter wie Gate-Oxiddicke, Gate-Pitch, Kontaktlochabmessungen, Oberflächenrauhigkeit und andere messen. Dieses Gerät kann sowohl 2D- als auch 3D-Profile unterstützen und eignet sich somit ideal für die Analyse von Funktionen auf dem Wafer mit komplexer Topologie. Darüber hinaus bietet KEYENCE LK-G87 zur Optimierung des Mess- und Analyseprozesses hierarchische Erkennungsfähigkeiten und ein Tiefenvergleichsprogramm, mit dem Benutzer überprüfen können, ob mehrere Schichten auf dem Wafer genaue Toleranzen aufweisen. Darüber hinaus bietet das System auch ein Fehlererkennungsmodul, um mögliche Defekte zu identifizieren, die sich auf der Waferoberfläche zeigen könnten. Diese Einheit ist in der Lage, Objekte automatisch zu lokalisieren und zu kennzeichnen, was die Zeit und den Aufwand bei der Suche nach Fehlern jeder Art erheblich reduziert. Schließlich ist die Maschine mit fortgeschrittenen Geräteproduktionsanalysefähigkeiten ausgestattet, um Geräteeigenschaften zu bewerten, wodurch Benutzer ihre Teile mit großen Details messen und bewerten können. Abschließend ist LK-G87 ein optimales Wafer-Prüf- und Messtechnikwerkzeug für genaue und effiziente Inspektionen. Mit der Kombination aus schnellem Scannen, überlegener Genauigkeit, automatisierten Handhabungsfähigkeiten, Fehlererkennungsmodul und Geräteproduktionsanalyse bietet KEYENCE LK-G87 hervorragende Funktionen, um eine hohe Qualität der Wafer mit höherer Effizienz zu gewährleisten.