Gebraucht KEYENCE LKG-3001P #9109315 zu verkaufen

KEYENCE LKG-3001P ist eine hochpräzise Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die sowohl die höchste technische Genauigkeit als auch die einfache Bedienung erfüllt. Das System verfügt über eine präzise Hochgeschwindigkeits-Luftlagerstufe und zuverlässige hochpräzise Messfunktionen mit einer integrierten 12-Bit-Kamera. Dieses Gerät ist mit einer Vielzahl von eingebauten Hardware- und Softwareoptionen ausgestattet, um eine breite Palette von Wafer-Testanwendungen zu ermöglichen. LKG-3001P Maschine hat eine kompakte Bauweise mit einer hochgenauen Luftlagerstufe, die Präzisionsmessungen von Wafern mit minimaler Beanspruchung gewährleistet. Das Werkzeug hat ein effektives Sichtfeld von 27 x 15 mm, was eine optimale Abdeckung des gesamten aktiven Bereichs des Wafers ermöglicht. Das Asset kann Funktionen mit extremer Genauigkeit von bis zu 0,5 μ m messen, wenn die integrierte automatische Scan-Fähigkeit verwendet wird. Darüber hinaus verfügt KEYENCE LKG-3001P über eine 12-Bit-Kamera, die hochpräzise Bildgebungsfunktionen mit einer Vielzahl von Kontrasteinstellungen und Bildaufnahmeraten bietet. Das Modell ist auch mit einer Vielzahl von Bildverarbeitungs- und Analyse-Softwarepaketen kompatibel. Mit der Fähigkeit, verschiedene Arten von Berichten zu generieren, bietet LKG-3001P beispiellose Metrologie-Funktionen für eine Vielzahl von Wafer-Testanwendungen. Die Ausrüstung ist auch auf Flexibilität ausgelegt und bietet die Möglichkeit, die Arbeitsparameter schnell an die Bedürfnisse des Bedieners anzupassen. Bediener können alle Einstellungen des Systems über die intuitive grafische Benutzeroberfläche (GUI) mit einem einfach zu navigierenden Bedienfeld steuern. KEYENCE LKG-3001P ist die perfekte Wahl für anspruchsvolle Wafertests und messtechnische Anwendungen. Es verfügt über eine Kombination aus hochgenauen Komponenten, eine breite Palette von Bildgebungs- und Verarbeitungsoptionen, komplette Flexibilität und eine intuitive GUI. Dieses Gerät bietet eine erschwingliche Lösung für die Erzielung der höchsten Genauigkeit in Wafer-Tests.