Gebraucht KEYENCE LT-8110, LT-V201, LT-8105 #14087 zu verkaufen

KEYENCE LT-8110, LT-V201 und LT-8105 sind eine Reihe von Wafer-Prüf- und Messtechnik-Systemen zur effizienten Inspektion und Analyse von Halbleiterscheiben. Die fortschrittliche Technologie in diesen Systemen ermöglicht hochauflösendes, schnelles Scannen von Wafern in einer Vielzahl von Formaten. KEYENCE LT-8110 ist ein optisches Strahlprofilometer, das in der Lage ist, detaillierte 2-dimensionale Topographiebilder von Halbleiterscheiben in wenigen Minuten bereitzustellen. Es verfügt über ein großes Sichtfeld (250x250 mm) und eine feine Pixelauflösung von bis zu 5µm, was für genaue und präzise Ergebnisse sorgt. Die fortschrittliche Luftabtastausrüstung beschleunigt die Scanleistung weiter, indem sie eine Kombination aus numerischen und Bildtechniken verwendet, um interessierende Bereiche auf dem Wafer zu ermitteln. Das LT-8110 verfügt zudem über eine automatisierte Kalibrierungsfunktion, die eine gleichbleibende Genauigkeit über mehrere Messungen hinweg gewährleistet. KEYENCE LT-V201 ist ein Vibrometersystem zur Messung der dynamischen Eigenschaften von Halbleiterstrukturen. Es verwendet Rasterlaser-Vibrometrie, um Änderungen in den Vibrationseigenschaften von Wafern und anderen Komponenten genau zu erfassen. Diese Einheit kann für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden, von der Messung mikroskopischer Resonanzmuster bis zur Beurteilung der Integrität von Materialien, die in Leiterplatten verwendet werden. KEYENCE LT-8105 ist eine fortschrittliche Wafer Defekt Inspektionsmaschine. Es besteht aus einer hochauflösenden, hochempfindlichen Kamera und einem leistungsstarken Beleuchtungswerkzeug, um detaillierte Bilder von Fehlern auf den Halbleiterscheiben bereitzustellen. Es verfügt über verschiedene Betriebsarten und ermöglicht es dem Benutzer, die Abbildungsparameter und Bildanalyse-Algorithmen zu konfigurieren, um verschiedene Arten von Fehlern zu erfassen. Insgesamt sind KEYENCE LT-8110, LT-V201 und LT-8105 fortschrittliche Systeme zur effizienten Inspektion und Analyse von Halbleiterscheiben. Alle drei Systeme nutzen die neuesten Technologien in ihren jeweiligen Fachgebieten und ermöglichen so extrem präzise und präzise Messungen. Durch die Bereitstellung einer Reihe von Systemen, die sich gegenseitig ergänzen, bieten die LT-8110, LT-V201 und LT-8105 die umfassendste Lösung für Wafertests und Messtechnik.