Gebraucht KIC THERMAL SlimKIC II #114986 zu verkaufen

KIC THERMAL SlimKIC II Impulse Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein fortschrittlicher Infrarot-Scanner, der für Hochgeschwindigkeits-Wafer-Tests entwickelt wurde. Das System besteht aus einer Infrarotkamera, einer vertikalen Abtaststufe und einem Präzisionspositionierer. Die hochauflösende Kamera nutzt die neueste Technologie, um berührungslos digitale Daten von Proben zu sammeln und schnelle, genaue messtechnische Messungen zu ermöglichen. Der Präzisionspositionierer sorgt dafür, dass die Probe vor der Messung genau auf der Bühne positioniert wird. Die vertikale Abtaststufe bietet schnelle, hochpräzise Abtastfunktionen. Das SlimKIC II-Gerät wurde entwickelt, um Anomalien in Wafern während der Inspektion schnell und zuverlässig zu erkennen. Es verwendet Bildanalyse-Algorithmen, um sowohl große als auch kleinere Fehler schnell zu identifizieren. Die Maschine ist in der Lage, kleine Oberflächenfehler wie Einbauspäne, Überbrückung, Scuffs und Kreuzungsschäden zu erkennen. Die erweiterten bildgebenden Fähigkeiten des Werkzeugs ermöglichen es, Temperaturschwankungen an der Probenoberfläche zu erkennen und bieten ein effizientes Mittel zur Verwaltung der Zuverlässigkeit der thermischen Messung. KIC THERMAL SlimKIC II Asset unterstützt eine breite Palette von messtechnischen Anwendungen, einschließlich Schritthöhenmessungen, Ebenheit und Mikrogeometriemessungen und Widerstandsmessung. Seine optischen Mikroskopie-Fähigkeiten sind unübertroffen, so dass es feine Oberflächenstrukturen und Kontrastunterschiede messen kann. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Materialien zu untersuchen, einschließlich Silizium und andere Halbleitermaterialien, so dass eine schnelle und effiziente Prüfung. SlimKIC II Modell ist sehr zuverlässig und einfach zu bedienen. Es bietet schnelle und genaue Tests in einer temperaturgesteuerten Umgebung, die genaue und wiederholbare Messergebnisse ermöglichen. Die Ausrüstung ist zudem sehr flexibel, so dass Benutzer schnell und einfach Änderungen am Testaufbau vornehmen können. KIC THERMAL SlimKIC II Impulse Wafer Testing and Metrology System ist mit seiner fortschrittlichen Technologie, intuitiven Bedienelementen und hervorragender Leistung eine ideale Wahl für Hochgeschwindigkeits-Wafertests mit Präzision und Genauigkeit. Das Gerät ist ein unschätzbares Gut für jedes Labor oder Produktionsstätte, und seine Kosteneffizienz macht es zu einem ausgezeichneten Wert.